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幾何量公差與檢測(cè)

幾何量公差與檢測(cè)

定 價(jià):¥29.80

作 者: 甘永立主編
出版社: 上??茖W(xué)技術(shù)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 機(jī)械元件

ISBN: 9787532357673 出版時(shí)間: 2001-01-01 包裝: 平裝
開(kāi)本: 26cm 頁(yè)數(shù): 288頁(yè) 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  《幾何量公差與檢測(cè)》課程即《互換性與測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)》課程。本書(shū)共分緒論,幾何量測(cè)量基礎(chǔ),孔、軸公差與配合,形狀和位置公差與檢測(cè),表面粗糙度及其檢測(cè),滾動(dòng)軸承的公差與配合等。

作者簡(jiǎn)介

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