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表面與薄膜分析基礎(chǔ)

表面與薄膜分析基礎(chǔ)

定 價(jià):¥3.35

作 者: (美)[費(fèi)爾德曼]Leonard C.Feldman,(美)[邁耶]James W.Mayer著;嚴(yán)燕來,蔣平譯
出版社: 復(fù)旦大學(xué)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 工程材料 表面分析

ISBN: 9787309003604 出版時(shí)間: 1989-10-01 包裝:
開本: 20cm 頁數(shù): 403頁 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  本書論述了用于材料表面和薄膜的各種重要的現(xiàn)代分析技術(shù),包括背散射譜、低能電子衍射、次級(jí)離子質(zhì)譜、廣延X射線精細(xì)結(jié)構(gòu)、光電子譜及核技術(shù)等。

作者簡介

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