半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化

定　價(jià)：￥16.40

作　者：	（英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主編；李錦林等譯
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	電路

ISBN：	9787030011640	出版時(shí)間：	1989-01-01	包裝：
開本：	21cm	頁(yè)數(shù)：	463頁(yè)	字?jǐn)?shù)：

　　本書闡述了用硅、砷化鎵及磷化銦等材料制作的雙極型晶體管，場(chǎng)效應(yīng)晶體管、發(fā)光二極管、半導(dǎo)體激光器以及微波集成電路等各種半導(dǎo)體器件和電路的可靠性和退化問(wèn)題。

暫缺《半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化》作者簡(jiǎn)介

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