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光電測(cè)距儀實(shí)用檢測(cè)新方法

光電測(cè)距儀實(shí)用檢測(cè)新方法

定　價(jià)：￥5.70

作　者： 黃偉明著
出版社： 測(cè)繪出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 光電測(cè)距儀
ISBN： 9787503005756 出版時(shí)間： 1993-05-01 包裝：
開(kāi)本： 19cm 頁(yè)數(shù)： 150頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)闡述了光電測(cè)距周期誤差、加、乘常數(shù)及儀器標(biāo)稱(chēng)精度檢測(cè)的原理及實(shí)質(zhì)，提出了平臺(tái)等分法、精化法、差值法3種提高檢測(cè)功效的新方法等。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《光電測(cè)距儀實(shí)用檢測(cè)新方法》作者簡(jiǎn)介

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