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電子測(cè)試與實(shí)驗(yàn)技術(shù)

電子測(cè)試與實(shí)驗(yàn)技術(shù)

定 價(jià):¥3.60

作 者: 黃以銘主編
出版社: 人民郵電出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 電子測(cè)量 電子技術(shù)

ISBN: 9787115034274 出版時(shí)間: 1988-03-01 包裝:
開(kāi)本: 26cm 頁(yè)數(shù): 254頁(yè) 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  內(nèi)容為:一、電子測(cè)量技術(shù),包括測(cè)量方法、誤差分析、電路測(cè)試及常用電子儀器,器件的基本知識(shí)等。二、實(shí)驗(yàn)研究,介紹新型集成器件的實(shí)驗(yàn)技術(shù),包括一些微機(jī)硬件的功能測(cè)試與使用等。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《電子測(cè)試與實(shí)驗(yàn)技術(shù)》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

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