試驗設計與分析及參數優(yōu)化

定　價：￥69.00

作　者：	（美）[吳建福]（C. F. Jeff Wu），（美） [邁克爾·哈曼蒂]（Michael Hamada）著；張潤楚等譯
出版社：	中國統計出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

ISBN：	9787503740237	出版時間：	2003-01-01	包裝：
開本：	26cm	頁數：	577頁	字數：

　　本書從理論和應用兩個角度深刻地闡述了試驗設計的基本原理和思想，全面系統介紹了試驗設計的一般理論和方法，包括各種設計的構造和分析、建模理論和數據分析方法。

暫缺《試驗設計與分析及參數優(yōu)化》作者簡介

暫缺《試驗設計與分析及參數優(yōu)化》目錄

掃描二維碼

鄂公網安備 42010302001612號