本書介紹了縮小到納米尺寸的CMOS器件面臨的挑戰(zhàn),以及為改善器件性能而發(fā)展的新工藝、新結構。全書共六章,內容涉及CMOS器件等比例縮小的發(fā)展趨勢,縮小到納米尺寸的CMOS器件面臨的挑戰(zhàn),實現納米圖形尺寸的光刻技術,納米CMOS器件中的柵工程,納米CMOS器件中的溝道工程,以及各種新型的納米CMOS器件結構及實現技術。本書取材新穎,基本反映了CMOS器件的最新發(fā)展。本書可作為微電子專業(yè)高年級本科生以及研究生的教學參考書,對從事CMOS器件和集成電路設計與研究的科學家和工程師也有重要參考價值,信息領域其他專業(yè)的科技人員也可從本書中了解一些微電子技術的最新進展。