材料現代研究方法（研究生用教材）

第1章 電子衍射原理及其分析方法
1.1 電子衍射原理
1.2 單晶電子衍射譜的標定
1.3 高階勞動厄區(qū)衍射的標定
1.4 透射電子顯微鏡樣品制備技術
1.5 晶體取向關系測定
1.6 立方晶系孿晶電子衍射分析
1.7 層錯的衍襯分析
1.8 界面的衍的衍分析
1.9 位錯的衍襯分析
習題
參考文獻
第2章 材料表面分析技術
2.1 表面分析方法的物理基礎
2.2 俄歇電子能譜儀
2.3 X射線光電子能譜儀
2.4 AES和XPS在材料科學研究中心的應用
習題
參考文獻
第3章 材料熱分析方法
3.1 差熱分析與差示掃描量熱法
3.2 熱重法
3.3 熱機械法
3.4 影響熱分析測量的實驗因素
習題
參考文獻
附錄
附錄1 常用晶體學公式
附錄2 立方晶體晶面（或晶向）夾角表
附錄3 電子衍射花樣標定時用的數據表
附錄4 立方晶系
附錄5 化學減薄液成分
附錄6 電解拋光液的成分
附錄7 供制備萃取復型用的金屬試樣的電解拋光和腐蝕規(guī)范
附錄8 MgX射線元素譜線位置
附錄9 Alx射線素譜線的位置
附錄10 元素的電負性
附錄11 元素的分析意義俄歇線
附錄12 電子結合能標識素表（以MgKa）為激發(fā)源
附錄13 電子結合能示識元素表（以ALKa）為激發(fā)源
附錄14 順磁態(tài)與逆磁態(tài)離子
附錄15 原子靈敏度因子（ASF）
附錄16 鋼與合金中常見的相晶體數學據
附錄17 不同c/a下，四方晶系邊長（r1/r2）和夾角（p）表（部分）
附錄18 不同c/a下，六方晶系邊長（r1/r2）和夾角（p）表（部分）