本手冊是一本有關電子故障分析的綜合性參考書,書中詳細論述了電子元件和電子系統的故障分析方法。全書分三大部分共20章。第一部分介紹電子故障分析的應用,包括電子故障的原因、故障在整個產品壽命期內的分布、故障的消除、質量控制規(guī)范、產品的賠償責任和其他相關問題。第二部分敘述分析方法,包括非破壞性方法(攝影和光學顯微術、X射線和元件的X射線照相檢查、紅外熱敏成像法、電子器件的聲學微成像故障分析)和破壞性方法(金相學、化學特性的確定、電子與電氣特性的測試、掃描電子顯微鏡和X射線分析)。第三部分介紹特殊的電子封裝和元件工藝,包括焊接、印制電路部件的故障分析、導線和電纜、開關和繼電器、連接技術、元件的故障分析、半導體器件、電源和高壓設備。書中對電子元件和電子系統的故障類型、故障機理、查找排除故障的途徑及具體步驟,特別是對工藝過程中的故障做了深入細致的介紹。此外,書中還提供了大量實驗數據、曲線、圖片和典型案例分析,可供在實際工作中參考使用。.本書可作為從事電子元件和電子系統制造、設計和維護使用的廣大工程技術人員及實驗人員的參考用書。...