數(shù)據(jù)域測(cè)試及儀器：數(shù)字系統(tǒng)的故障診斷及可測(cè)性設(shè)計(jì)

緒論
一、測(cè)試技術(shù)的新領(lǐng)域
二、數(shù)據(jù)域測(cè)試的基本方法
三、計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試
四、可測(cè)性和內(nèi)測(cè)試
五、數(shù)據(jù)域測(cè)試儀器
第一章 數(shù)據(jù)域測(cè)試的基本概念
第一節(jié) 數(shù)字系統(tǒng)的測(cè)試
一、數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試的必要性和復(fù)雜性
二、故障模型與測(cè)試
三、故障冗余
四、完備測(cè)試集與故障等價(jià)
五、測(cè)試矢量的產(chǎn)生
大、測(cè)試響應(yīng)的觀測(cè)
七、復(fù)雜系統(tǒng)的分級(jí)測(cè)試
第二節(jié) 旁舉測(cè)試法
一、單輸出無(wú)扇出電路
二、帶匯聚扇出的單輸出電路
三、各輸出不依賴于全部輸入的多輸出電路
第三節(jié) 故障表方法
一、固定式列表計(jì)劃偵查
二、固定計(jì)劃定位
三、適應(yīng)性計(jì)劃偵查和定位
習(xí)題
第二章 組合邏輯電路的測(cè)試
第一節(jié) 通路敏化
一、敏化通路
二、通路敏化法
三、關(guān)于一維敏化的討論
四、多維敏化
第二節(jié) d算法
一、d算法的基礎(chǔ)知識(shí)
二、d算法的基本步驟
三、d算法舉例
四、擴(kuò)展d算法
五、關(guān)于多故障的討論
第三節(jié) 臨界通路法
第四節(jié) 布爾差分法
一、布爾差分的基本概念
二、布爾差分的特性
三、求布爾差分的方法
四、單故障的測(cè)試
五、多重故障的測(cè)試
六、主路徑敏化法
第五節(jié) 故障字典
習(xí)題
第三章 時(shí)序邏輯電路的測(cè)試
第一節(jié) 迭接電路法
一、基本思想
二、同步時(shí)序電路的組合迭接
三、異步時(shí)序電路的組合迭接
第二節(jié) 時(shí)序故障表法
一、故障偵查
二、故障定位
第三節(jié) 狀態(tài)變遷檢查法
一、初始狀態(tài)的設(shè)置
二、狀態(tài)的識(shí)別
三、故障的測(cè)試
四、區(qū)分序列的存在性
第四節(jié) 時(shí)延測(cè)試
一、DPmax的測(cè)試
二、電路－時(shí)間方程
習(xí)題
第四章 微機(jī)系統(tǒng)的測(cè)試
第一節(jié) 存儲(chǔ)器的測(cè)試
一、RAM中的故障類型
二、測(cè)試的若干原則性考慮
三、存儲(chǔ)器測(cè)試方法
四、萬(wàn)法的比較
第二節(jié) 微處理器的測(cè)試
一、μP的算法產(chǎn)生測(cè)試
二、μP功能性測(cè)試的一般方法
三、μP功能性測(cè)試的系統(tǒng)圖方法
第三節(jié) 利用被測(cè)系統(tǒng)的應(yīng)用程序進(jìn)行測(cè)試
一、基本概念
二、應(yīng)用程序的模型化
三、關(guān)系圖
四、測(cè)試的組織
五、通路測(cè)試的算法
第四節(jié) 利用總線觀察進(jìn)行測(cè)試
習(xí)題
第五章 數(shù)字系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試
第一節(jié) 計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試的基本概念
一、概述
二、CAT的結(jié)構(gòu)模型
三、測(cè)試算法
四、邏輯和功能描述
五、數(shù)據(jù)庫(kù)
六、輸出
第二節(jié) d算法程序
一、DALG－II程序
二、實(shí)用中的具體問題
第三節(jié) 擴(kuò)展d算法程序
一、系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
二、SXMS測(cè)試碼自動(dòng)生成系統(tǒng)
三、SXMDIAG故障測(cè)試系統(tǒng)
第四節(jié) PODEM算法
第五節(jié) 微處理器測(cè)試產(chǎn)生程序
一、基本概念
二、RTL語(yǔ)言簡(jiǎn)介
三、測(cè)試碼的生成
第六節(jié) 故障模擬
一、基本概念
二、故障模擬方法
三、并行模擬
四、演繹模擬
五、同時(shí)故障模擬
習(xí)題
第六章 可測(cè)性設(shè)計(jì)
第一節(jié) 可測(cè)性的測(cè)度
一、基本定義
二、標(biāo)準(zhǔn)單元的可測(cè)性分析
三、可控性和可觀測(cè)性的計(jì)算
第二節(jié) 可測(cè)性設(shè)計(jì)方法
一、可測(cè)性的改善設(shè)計(jì)
二、結(jié)構(gòu)可測(cè)性設(shè)計(jì)
三、其他可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法簡(jiǎn)介
第三節(jié) 組合電路的異或門串聯(lián)結(jié)構(gòu)
一、Reed－Muller展開式
二、異或門串聯(lián)電路結(jié)構(gòu)測(cè)試分析
第四節(jié) 內(nèi)測(cè)試設(shè)計(jì)
一、多位線性反饋移位寄存器
二、偽隨機(jī)數(shù)發(fā)生器
三、特征分析器
四、內(nèi)測(cè)試電路設(shè)計(jì)
第五節(jié) 邊緣掃描技術(shù)
一、JTAG邊緣掃描可測(cè)性設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)
二、工作萬(wàn)式
三、邊緣掃描單元的級(jí)連
四、JTAG應(yīng)用舉例
五、JTAG的特點(diǎn)
習(xí)題
第七章 數(shù)據(jù)域測(cè)試儀器
第一節(jié) 數(shù)字信號(hào)發(fā)生器
一、數(shù)字信號(hào)發(fā)生器的作用
二、數(shù)字信號(hào)發(fā)生器的結(jié)構(gòu)
三、數(shù)據(jù)的產(chǎn)生
四、數(shù)據(jù)流的特征
五、數(shù)字信號(hào)發(fā)生器的主要技術(shù)指標(biāo)
第二節(jié) 特征分析儀
一、特征分析儀的基本原理
二、特征分析儀的故障偵出率
三、特征分析儀的基本結(jié)構(gòu)
四、特征分析儀的工作
五、“特征”設(shè)計(jì)
第三節(jié) 邏輯分析儀
一、邏輯分析儀的特點(diǎn)及其主要技術(shù)指標(biāo)
二、邏輯分析儀的基本結(jié)構(gòu)
三、數(shù)據(jù)捕獲
四、數(shù)據(jù)顯示
五、應(yīng)用
第四節(jié) GP－IB母線分析儀
一、概述
二、母線分析儀的作用和功能
三、HP－59401A母線分析儀的內(nèi)部組織
四、國(guó)產(chǎn)母線分析儀舉例
第五節(jié) 規(guī)約分析儀
一、規(guī)約分析儀的原理
二、規(guī)約分析儀的基本結(jié)構(gòu)
三、規(guī)約分析儀的技術(shù)指標(biāo)
四、規(guī)約分析儀的應(yīng)用與分類
第六節(jié) 數(shù)字傳輸測(cè)試
一、數(shù)字傳輸測(cè)試的基本概念
二、數(shù)據(jù)通信傳輸測(cè)試
三、PDH傳輸測(cè)試及儀器
四、SDH傳輸測(cè)試
第七節(jié) 數(shù)字通信測(cè)試
一、數(shù)字通信測(cè)試的基本概念
二、矢量信號(hào)發(fā)生器
三、矢量信號(hào)分析儀
第八節(jié) 開發(fā)系統(tǒng)
一、概述
二、開發(fā)系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu)
三、仿真器
四、簡(jiǎn)易開發(fā)系統(tǒng)
五、通用開發(fā)系統(tǒng)
六、HP64000邏輯開發(fā)系統(tǒng)簡(jiǎn)介
習(xí)題
參考文獻(xiàn)