系統(tǒng)芯片驗(yàn)證方法與技術(shù)

定　價(jià)：￥29.00

作　者：	（美）拉申卡，帕特森，信赫著，孫海平，丁健譯；孫海平譯
出版社：	電子工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787121005893	出版時(shí)間：	2005-01-01	包裝：	膠版紙
開本：	小16開	頁(yè)數(shù)：	263	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書從最高層次的系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證直至最終的物理實(shí)現(xiàn)和簽付，詳細(xì)介紹了各種設(shè)計(jì)抽象級(jí)別和各階段所涉及到的各種驗(yàn)證方法及工具。主要內(nèi)容包括各種不同類型的仿真、軟件/硬件協(xié)同驗(yàn)證、數(shù)字/模擬混合驗(yàn)證、網(wǎng)表靜態(tài)驗(yàn)證、物理驗(yàn)證、測(cè)試平臺(tái)遷移、形式模型與等價(jià)性檢查、代碼靜態(tài)檢查與代碼覆蓋狀況分析、定向隨機(jī)測(cè)試等驗(yàn)證技術(shù)。本書以藍(lán)牙系統(tǒng)芯片為例，各章中有結(jié)合實(shí)際的代碼和腳本可供讀者參考，以幫助讀者進(jìn)一步深入理解。本書內(nèi)容全面、翔實(shí)，可作為從事系統(tǒng)芯片設(shè)計(jì)的工程人員、研究者和高等院校相關(guān)專業(yè)師生的參考材料，對(duì)于從事傳統(tǒng)集成電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證的人員有較高的指導(dǎo)和借鑒價(jià)值。

作者簡(jiǎn)介

　　PrakashRashinkar在通信衛(wèi)星、運(yùn)載火箭、太空船地面系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)、網(wǎng)各交換、多媒體和無(wú)線應(yīng)用等領(lǐng)域擁有超過(guò)15年的嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)和驗(yàn)證工作經(jīng)驗(yàn)。他畢業(yè)于印度Warangal的RegionalEngineeringCollege，獲電氣工程理學(xué)碩士學(xué)位。他在CadenceDesignSystems公司領(lǐng)導(dǎo)一個(gè)團(tuán)隊(duì)負(fù)責(zé)系統(tǒng)芯片驗(yàn)證方法的研究工作，是VSIA功能驗(yàn)證研發(fā)工作組成員。目前，他是Cadence公司縱向市場(chǎng)和設(shè)計(jì)環(huán)境工作組的核心設(shè)計(jì)師。PeterPaterson在ASIC和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域擁有超過(guò)20年的工作經(jīng)驗(yàn)。他畢業(yè)于蘇格蘭RobertGordon大學(xué)，獲電氣工程理學(xué)學(xué)士學(xué)位。他在Unisys公司時(shí)帶領(lǐng)團(tuán)隊(duì)設(shè)計(jì)出了第一塊主機(jī)芯片SCAMP和一款單芯片砷化鎵處理器，這兩種器件是當(dāng)今系統(tǒng)芯片器件的早期雛形。在Cadence公司工作期間，他締造的基于平臺(tái)的系統(tǒng)芯片設(shè)計(jì)方法交付給ScottishEnterprise公司作為ALBA工程的一部分。他也是VSIA功能驗(yàn)證研發(fā)工作組成員。目前，他是Vixel公司的ASIC研發(fā)總監(jiān)。LeenaSingh在多媒體、無(wú)線通信、過(guò)程控制等應(yīng)用領(lǐng)域擁有超過(guò)9年的ASIC設(shè)計(jì)和驗(yàn)證的工作經(jīng)驗(yàn)。Leena畢業(yè)于印度Chandigarh的Punjab大學(xué)，獲電氣工程理學(xué)學(xué)士學(xué)位。她是Cadence公司系統(tǒng)芯片驗(yàn)證方法研發(fā)成員。目前，她是Cadence公司縱向市場(chǎng)和設(shè)計(jì)環(huán)境工作組的主任設(shè)計(jì)工程師。

圖書目錄

第1章緒言
1. 1 工藝的挑戰(zhàn)
1. 1. 1 時(shí)序收斂
1. 1. 2 設(shè)計(jì)能力
1. 1. 3 物理屬性
1. 1. 4 設(shè)計(jì)生產(chǎn)率鴻溝
1. 1. 5 面市時(shí)間的發(fā)展趨勢(shì)
1. 1. 6 系統(tǒng)芯片技術(shù)
1. 2 可供選用的驗(yàn)證技術(shù)
1. 2. 1 仿真技術(shù)
1. 2. 2 靜態(tài)技術(shù)
1. 2. 3 形式技術(shù)
1. 2. 4 物理驗(yàn)證與分析
1. 2. 5 各種驗(yàn)證做法的比較
1. 3 驗(yàn)證方法
1. 3. 1 系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證
1. 3. 2 系統(tǒng)芯片硬件寄存器傳輸級(jí)驗(yàn)證
1. 3. 3 系統(tǒng)芯片軟件驗(yàn)證
1. 3. 4 網(wǎng)表驗(yàn)證
1. 3. 5 物理驗(yàn)證
1. 3. 6 器件測(cè)試
1. 4 測(cè)試平臺(tái)的建立
1. 4. 1 采用硬件描述語(yǔ)言建立測(cè)試平臺(tái)
1. 4. 2 采用編程語(yǔ)言接口建立測(cè)試平臺(tái)
1. 4. 3 基于波形建立測(cè)試平臺(tái)
1. 4. 4 基于事務(wù)建立測(cè)試平臺(tái)
1. 4. 5 基于設(shè)計(jì) 規(guī)約建立測(cè)試平臺(tái)
1. 5 測(cè)試平臺(tái)的遷移
1. 5. 1 將測(cè)試平臺(tái)從功能性遷移至寄存器傳輸級(jí)
1. 5. 2 測(cè)試平臺(tái)從寄存器傳輸級(jí)向網(wǎng)表的遷移
1. 6 驗(yàn)證語(yǔ)言
1. 7 驗(yàn)證IP重用
1. 8 驗(yàn)證途徑
1. 8. 1 自頂而下的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證途徑
1. 8. 2 自底而上的驗(yàn)證途徑
1. 8. 3 基于平臺(tái)的驗(yàn)證途徑
1. 8. 4 受系統(tǒng)接口驅(qū)動(dòng)的驗(yàn)證途徑
1. 9 驗(yàn)證和器件測(cè)試
1. 9. 1 器件測(cè)試的挑戰(zhàn)
1. 9. 2 測(cè)試策略
1. 10 驗(yàn)證計(jì)劃
1. 11 藍(lán)牙系統(tǒng)芯片的參考設(shè)計(jì)
1. 11. 1 藍(lán)牙器件中的元素
1. 11. 2 藍(lán)牙網(wǎng)絡(luò)
1. 11. 3 藍(lán)牙系統(tǒng)芯片
參考文獻(xiàn)
第2章系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證
2. 1 系統(tǒng)設(shè)計(jì)
2. 1. 1 功能／行為設(shè)計(jì)
2. 1. 2 架構(gòu)映射
2. 2 系統(tǒng)驗(yàn)證
2. 2. 1 功能驗(yàn)證
2. 2. 2 性能驗(yàn)證
2. 2. 3 系統(tǒng)級(jí)測(cè)試平臺(tái)
2. 2. 4 建立系統(tǒng)級(jí)測(cè)試平臺(tái)
2. 2. 5 系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)的評(píng)價(jià)尺度
2. 2. 6 運(yùn)用系統(tǒng)級(jí)測(cè)試平臺(tái)
2. 2. 7 系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)的遷移
2. 3 藍(lán)牙系統(tǒng)芯片
參考文獻(xiàn)
第3章功能塊級(jí)驗(yàn)證
3. 1 IP功能塊
3. 2 功能塊級(jí)驗(yàn)證
3. 3 藍(lán)牙系統(tǒng)芯片的功能塊細(xì)節(jié)
3. 3. 1 仲裁器
3. 3. 2 仲裁器的測(cè)試平臺(tái)
3. 3. 3 譯碼器
3. 3. 4 ASB主方
3. 3. 5 ASB從方
3. 3. 6 ASB／APB橋
3. 4 代碼靜態(tài)檢查
3. 5 模型形式檢查
3. 5. 1 模型檢查的時(shí)間
3. 5. 2 模型檢查的局限
3. 5. 3 模型檢查方法
3. 5. 4 模型檢查的步驟
3. 6 功能驗(yàn)證與仿真
3. 6. 1 黑盒驗(yàn)證途徑
3. 6. 2 白盒驗(yàn)證途徑
3. 6. 3 灰盒驗(yàn)證途徑
3. 6. 4 仿真
3. 7 協(xié)議檢查
3. 7. 1 存儲(chǔ)器／寄存器訪問(wèn)信號(hào)
3. 7. 2 協(xié)議檢查示例
3. 8 定向隨機(jī)測(cè)試
3. 9 代碼覆蓋狀況分析
3. 9. 1 覆蓋狀況分析的類型
3. 9. 2 代碼覆蓋率分析
參考文獻(xiàn)
第4章模擬與混合信號(hào)仿真
4. 1 混合信號(hào)仿真
4. 2 設(shè)計(jì)抽象層次
4. 3 仿真環(huán)境
4. 3. 1 選擇仿真環(huán)境
4. 3. 2 現(xiàn)行環(huán)境的局限
4. 4 使用SPICE
4. 5 仿真方法
4. 6 藍(lán)牙系統(tǒng)芯片中的數(shù)模轉(zhuǎn)換器
4. 6. 1 DAC的測(cè)試平臺(tái)
4. 6. 2 建立網(wǎng)表
4. 6. 3 仿真
4. 6. 4 向應(yīng)
4. 7 含模擬混合信號(hào)功能塊的芯片級(jí)驗(yàn)證
參考文獻(xiàn)
第5章仿真
5. 1 功能仿真
5. 2 測(cè)試平臺(tái)殼
5. 2. 1 藍(lán)牙系統(tǒng)芯片的功能塊細(xì)節(jié)
5. 2. 2 測(cè)試向量轉(zhuǎn)換
5. 2. 3 激勵(lì)生成
5. 2. 4 激勵(lì)的截取
5. 2. 5 結(jié)果檢查
5. 2. 6 從方的測(cè)試平臺(tái)殼
5. 3 基于事件的仿真
5. 3. 1 基于事件的仿真工具
5. 3. 2 基于事件的仿真環(huán)境
5. 3. 3 選擇基于事件的仿真方案
5. 3. 4 基于事件的仿真流程
5. 4 基于周期的仿真
5. 4. 1 何時(shí)采用基于周期的仿真
5. 4. 2 基于周期的仿真環(huán)境
5. 4. 3 選擇基于周期的仿真方案
5. 4. 4 基于周期的仿真的局限性
5. 4. 5 基于周期的仿真流程
5. 4. 6 基于事件和基于周期的仿真的比較
5. 5 ASB／APB橋的仿真
5. 5. 1 ASB／APB功能塊
5. 5. 2 設(shè)計(jì)寄存器傳輸級(jí)代碼
5. 5. 3 基于事件的仿真測(cè)試平臺(tái)
5. 5. 4 運(yùn)行仿真
5. 6 基于事件和基于周期相混合的仿真
5. 7 基于事務(wù)的驗(yàn)證
5. 7. 1 基于事務(wù)的驗(yàn)證中的元素
5. 7. 2 基于事務(wù)的驗(yàn)證環(huán)境
5. 7. 3 建立測(cè)試平臺(tái)
5. 7. 4 事務(wù)分析
5. 7. 5 基于事務(wù)的驗(yàn)證中的功能覆蓋狀況
5. 7. 6 基于事務(wù)的驗(yàn)證流程
5. 7. 7 藍(lán)牙系統(tǒng)芯片
5. 8 仿真加速
5. 8. 1 仿效
5. 8. 2 何時(shí)采用仿效
5. 8. 3 仿效環(huán)境
5. 8. 4 選擇仿效方案
5. 8. 5 仿效的局限性
5. 8. 6 仿效的流程
5. 8. 7 快速原型系統(tǒng)
5. 8. 8 硬件加速器
5. 8. 9 設(shè)計(jì)劃分
參考文獻(xiàn)
第6章軟件／硬件協(xié)同驗(yàn)證
6. 1 軟件順件協(xié)同驗(yàn)證環(huán)境
6. 2 仿效
6. 3 軟原型或虛擬原型
6. 3. 1 軟原型的局限性
6. 3. 2 建立軟原型的流程
6. 3. 3 藍(lán)牙系統(tǒng)芯片的軟原型
6. 4 協(xié)同驗(yàn)證
6. 4. 1 協(xié)同驗(yàn)證環(huán)境
6. 4. 2 選擇協(xié)同驗(yàn)證環(huán)境
6. 4. 3 協(xié)同驗(yàn)證方法
6. 4. 4 UART的協(xié)同驗(yàn)證
6. 5 快速原型系統(tǒng)
6. 5. 1 快速原型系統(tǒng)的局限性
6. 5. 2 可重配置快速原型系統(tǒng)
6. 5. 3 專用快速原型系統(tǒng)
6. 6 軟件／硬件驗(yàn)證方法的比較
6. 7 基于FPGA的設(shè)計(jì)
6. 7. 1 基于FPGA的設(shè)計(jì)指導(dǎo)原則
6. 7. 2 基于FPGA的設(shè)計(jì)流程
6. 8 開發(fā)電路印制板
6. 9 軟件測(cè)試
6. 9. 1 軟件開發(fā)的生命周期
6. 9. 2 軟件開發(fā)的指導(dǎo)原則
6. 9. 3 軟件測(cè)試的最佳經(jīng)驗(yàn)
6. 9. 4 調(diào)試工具
6. 9. 5 中斷的調(diào)試
參考文獻(xiàn)
第7章網(wǎng)表靜態(tài)驗(yàn)證
7. 1 網(wǎng)表驗(yàn)證
7. 2 藍(lán)牙系統(tǒng)芯片的仲裁器
7. 3 等價(jià)性檢查
7. 3. 1 等價(jià)性檢查解決方案的選擇
7. 3. 2 等價(jià)性檢查的流程
7. 3. 3 寄存器傳輸級(jí)對(duì)寄存器傳輸級(jí)的驗(yàn)證
7. 3. 4 寄存器傳輸級(jí)對(duì)門級(jí)網(wǎng)表的驗(yàn)證
7. 3. 5 從門級(jí)網(wǎng)表到門級(jí)網(wǎng)表驗(yàn)證
7. 3. 6 調(diào)試
7. 3. 7 對(duì)仲裁器進(jìn)行等價(jià)性檢查
7. 4 時(shí)序靜態(tài)驗(yàn)證
7. 4. 1 選擇時(shí)序靜態(tài)驗(yàn)證解決方案
7. 4. 2 時(shí)序靜態(tài)驗(yàn)證的流程
7. 4. 3 對(duì)仲裁器進(jìn)行時(shí)序靜態(tài)驗(yàn)證
參考文獻(xiàn)
第8章物理驗(yàn)證與設(shè)計(jì)簽付
8. 1 設(shè)計(jì)檢查
8. 2 物理效應(yīng)分析
8. 2. 1 寄生效應(yīng)的提取
8. 2. 2 電感效應(yīng)
8. 2. 3 信號(hào)完整性
8. 2. 4 電遷移效應(yīng)
8. 2. 5 亞波長(zhǎng)挑戰(zhàn)
8. 2. 6 工藝天線效應(yīng)
8. 3 設(shè)計(jì)簽付
參考文獻(xiàn)
附錄術(shù)語(yǔ)表