數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測(cè)試設(shè)計(jì)

　　《數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測(cè)試設(shè)計(jì)（附光盤）》論述集成電路與嵌入式數(shù)字系統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)，提出許多重要且關(guān)鍵的解決方案。針對(duì)目前在測(cè)試中遇到的實(shí)際問題，從技術(shù)和產(chǎn)品的投資成本上論述嵌入內(nèi)核和SoC的測(cè)試問題?！稊?shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測(cè)試設(shè)計(jì)（附光盤）》適合作為高等院校相關(guān)專業(yè)本科生、研究生的教材或參考書，也可供相關(guān)專業(yè)技術(shù)人員參考?！稊?shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測(cè)試設(shè)計(jì)（附光盤）》包括五章，按目錄的順序排列是：測(cè)試基礎(chǔ)、自動(dòng)測(cè)試圖形生成（ATPG）、掃描、存儲(chǔ)器測(cè)試和內(nèi)核。每章概要如下：第1章包括有關(guān)測(cè)試的術(shù)語、定義和基本信息，介紹了什么是測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)，怎么做測(cè)試，為什么做測(cè)試，需要測(cè)試的對(duì)象是什么，怎么度量與實(shí)施測(cè)試，使用什么設(shè)備測(cè)試，工程和成本權(quán)衡的內(nèi)因是什么。這是非?；A(chǔ)的一章，可以讓初學(xué)者或初級(jí)測(cè)試與可測(cè)性設(shè)計(jì)專業(yè)人員快速了解測(cè)試的需求、作用和語言。第2章介紹繁重的向量生成任務(wù)的自動(dòng)化過程，以及如何利用自動(dòng)測(cè)試圖形生成（ATPG）方法減小量產(chǎn)時(shí)間。該章描述了AC（動(dòng)態(tài)）和DC（靜態(tài)）故障模型向量生成分析與技術(shù)，包括了在硬件設(shè)計(jì)中必須遵守某些規(guī)則的原因，如何降低向量集合的大小，向量集合生成的時(shí)間等內(nèi)容。本章同時(shí)也討論了ATPG過程中的度量和權(quán)衡，介紹了不同ATPG工具的評(píng)估和基準(zhǔn)程序比較，幫助讀者在應(yīng)用中選擇適用的方法和工具。第3章講述掃描測(cè)試方法，開始先介紹了掃描設(shè)計(jì)和操作的基本知識(shí)，討論了采用一個(gè)掃描設(shè)計(jì)時(shí)需要考慮的設(shè)計(jì)要點(diǎn)與權(quán)衡。同時(shí)也包括了在設(shè)計(jì)中的掃描安裝技術(shù)，以及一些普遍問題的解決方法，例如可靠移位、無競(jìng)爭(zhēng)向量、移位定時(shí)、時(shí)鐘偏差。最后，介紹了一些減少測(cè)試時(shí)間的技術(shù)，如按照額定功能頻率對(duì)掃描結(jié)構(gòu)進(jìn)行移位（全速掃描），以及從設(shè)計(jì)的定時(shí)分析中抽取關(guān)鍵路徑信息，然后在掃描鏈中使用額定頻率采樣（AC掃描），從而通過掃描來達(dá)到AC測(cè)試目標(biāo)。第4章講述存儲(chǔ)器測(cè)試、掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)中的存儲(chǔ)器應(yīng)對(duì)方法和存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試（MBIST）。該章從存儲(chǔ)器測(cè)試基礎(chǔ)講起，擴(kuò)展到與掃描共存的測(cè)試結(jié)構(gòu)，最后描述內(nèi)建自測(cè)試結(jié)構(gòu)與集成。內(nèi)建自測(cè)試的存儲(chǔ)器內(nèi)核交付要包含很多信息，包括如何處理大量存儲(chǔ)器內(nèi)核集成，如何減少路由的問題，功耗問題，特征提取，數(shù)據(jù)調(diào)試，數(shù)據(jù)保存問題。第5章介紹使用可測(cè)試與可訪問的嵌入式內(nèi)核進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)。該章先介紹了被稱作“嵌入式IP（智能模塊）”，嵌入式內(nèi)核或基于內(nèi)核的設(shè)計(jì)風(fēng)格的基本術(shù)語、定義、內(nèi)容、權(quán)衡?；谇度胧絻?nèi)核的設(shè)計(jì)流程包括兩個(gè)方面，設(shè)計(jì)可測(cè)試可重用的內(nèi)核，使用嵌入式可重用內(nèi)核設(shè)計(jì)芯片。學(xué)習(xí)該章需要深入理解第1、3、4章的內(nèi)容。

　　Alfred L·Crouch畢業(yè)于肯塔基大學(xué)，獲電氣工程學(xué)碩士學(xué)位（MSEE）。他曾先后供職于德州儀器、數(shù)字設(shè)備公司以及摩托羅拉公司，長(zhǎng)期從事測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試自動(dòng)化以及計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試的工作。他在若干0EEE出版物、E-Timers以及專業(yè)雜志發(fā)表過大量文章，是IEEE會(huì)員。他擁有9個(gè)美國(guó)專利，主要是測(cè)試相關(guān)的發(fā)明專利，如邏輯內(nèi)建自測(cè)試、存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試、掃描結(jié)構(gòu)、掃描優(yōu)化，低功耗測(cè)試以及全速掃描。聯(lián)系方式：AI一Crouch@prodigy.net。