數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)與綜合實(shí)訓(xùn)

第1章　數(shù)字電子技術(shù)實(shí)訓(xùn)基礎(chǔ)知識(shí)　1
1.1　實(shí)驗(yàn)室的安全操作規(guī)程　1
1.1.1　人身安全　1
1.1.2　儀器、設(shè)備安全　1
1.2　數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)常用器材和工具的使用　2
1.2.1　常用器材　2
1.2.2　常用工具　3
1.3　數(shù)字電路的實(shí)驗(yàn)方法　3
1.3.1　TTL與CMOS數(shù)字集成電路的使用規(guī)則　4
1.3.2　TTL與CMOS電路的主要電氣參數(shù)指標(biāo)　5
1.3.3　數(shù)字電路的功能測(cè)試方法　7
1.3.4　數(shù)字電路的實(shí)驗(yàn)測(cè)試手段　8
1.3.5　從實(shí)驗(yàn)原理圖畫(huà)接線圖的方法　9
1.4　數(shù)字電路常見(jiàn)故障的診斷與排除　10
1.4.1　數(shù)字電路常見(jiàn)故障　10
1.4.2　數(shù)字電路常見(jiàn)故障的檢查與排除方法　11第2章　數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)　14
2.1　數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)的意義、目的、要求　14
2.1.1　實(shí)驗(yàn)的意義　14
2.1.2　實(shí)驗(yàn)的目的　14
2.1.3　實(shí)驗(yàn)的基本要求及實(shí)驗(yàn)報(bào)告的撰寫(xiě)　15
2.1.4　實(shí)驗(yàn)的學(xué)習(xí)方法　17
2.2　數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)的一般方法　18
2.2.1　驗(yàn)證性實(shí)驗(yàn)　18
2.2.2　設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)　18
2.2.3　利用數(shù)字電子技術(shù)CAI課件(DLCCAI)的實(shí)驗(yàn)　19
2.3　實(shí)驗(yàn)考核　19
2.3.1　實(shí)驗(yàn)筆試方法及樣卷　19
2.3.2　實(shí)驗(yàn)操作考試方法及樣題　20
2.4　數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)課題　24
實(shí)驗(yàn)一　集成邏輯門(mén)電路的功能測(cè)試　24
實(shí)驗(yàn)二　集成邏輯門(mén)電路的參數(shù)測(cè)試　27
實(shí)驗(yàn)三　集成門(mén)構(gòu)成組合邏輯電路的實(shí)驗(yàn)分析　29
實(shí)驗(yàn)四　中規(guī)模譯碼器　31
實(shí)驗(yàn)五　中規(guī)模數(shù)據(jù)選擇器　33
實(shí)驗(yàn)六　雙蹤示波器的使用　35
實(shí)驗(yàn)七　觸發(fā)器　37
實(shí)驗(yàn)八　觸發(fā)器構(gòu)成的計(jì)數(shù)器　40
實(shí)驗(yàn)九　中規(guī)模計(jì)數(shù)器的應(yīng)用　43
實(shí)驗(yàn)十　計(jì)數(shù)、譯碼、顯示綜合實(shí)驗(yàn)　45
實(shí)驗(yàn)十一　順序脈沖發(fā)生器　47
實(shí)驗(yàn)十二　利用集成邏輯門(mén)構(gòu)成脈沖電路　49
實(shí)驗(yàn)十三　集成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器和集成施密特觸發(fā)器　52
實(shí)驗(yàn)十四　555定時(shí)器　54
實(shí)驗(yàn)十五　模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換和數(shù)/模(D/A)轉(zhuǎn)換及其應(yīng)用　56
實(shí)驗(yàn)十六　利用DLCCAI分析組合邏輯電路　58
實(shí)驗(yàn)十七　利用DLCCAI分析組合電路的競(jìng)爭(zhēng)冒險(xiǎn)現(xiàn)象　60
實(shí)驗(yàn)十八　利用DLCCAI分析觸發(fā)器的邏輯功能　62
實(shí)驗(yàn)十九　利用DLCCAI分析N進(jìn)制計(jì)數(shù)器　65
實(shí)驗(yàn)二十　利用DLCCAI分析時(shí)序邏輯電路　68第3章　數(shù)字電路綜合實(shí)訓(xùn)　72
3.1　數(shù)字電路綜合實(shí)訓(xùn)的基本任務(wù)和基本要求　72
3.1.1　綜合實(shí)訓(xùn)的基本任務(wù)　72
3.1.2　綜合實(shí)訓(xùn)的基本要求　72
3.2　數(shù)字電路綜合實(shí)訓(xùn)的基本步驟和方法　73
3.2.1　綜合實(shí)訓(xùn)的基本步驟　73
3.2.2　綜合實(shí)訓(xùn)的時(shí)間安排建議　75
3.2.3　綜合實(shí)訓(xùn)的成績(jī)?cè)u(píng)定方法　76
3.2.4　綜合實(shí)訓(xùn)實(shí)驗(yàn)文件的標(biāo)準(zhǔn)格式　76
3.3　排除故障訓(xùn)練與考核　78
3.3.1　綜合實(shí)訓(xùn)中常見(jiàn)故障及排除故障的方法　78
3.3.2　排故障考核的方式　79
3.3.3　常考故障、產(chǎn)生原因及其查找方法　79
3.4　綜合實(shí)訓(xùn)課題　82
3.4.1　自動(dòng)報(bào)時(shí)數(shù)字鐘　82
3.4.2　籃球比賽計(jì)時(shí)器　92
3.4.3　簡(jiǎn)易數(shù)字頻率計(jì)　97
3.4.4　智力競(jìng)賽搶答器　102
3.4.5　交通控制器　107
3.4.6　數(shù)碼順序、循環(huán)顯示控制器　111附錄A　數(shù)字邏輯實(shí)驗(yàn)儀　115
附A1　多孔實(shí)驗(yàn)插座板部分　115
附A2　操作板部分　116
附A3　多路電源部分　119附錄B　示波器與數(shù)字萬(wàn)用表使用簡(jiǎn)介　120
附B1　XJ4328型雙蹤示波器　120
附B1.1　概述　120
附B1.2　面板上各控制件的作用　120
附B1.3　使用方法　122
附B2　DT-830/831數(shù)字萬(wàn)用表　125
附B2.1　概述　125
附B2.2　主要技術(shù)指標(biāo)(測(cè)量范圍)　126
附B2.3　使用方法及注意事項(xiàng)　126附錄C　實(shí)驗(yàn)室常用數(shù)字電路元器件型號(hào)、主要性能參數(shù)及功能　128
附C1　電阻器和電位器　128
附C1.1　電阻器和電位器的型號(hào)命名法　128
附C1.2　幾種常用電阻器的特點(diǎn)　128
附C1.3　電阻器的主要性能指標(biāo)　129
附C2　電容器　130
附C2.1　電容器的型號(hào)命名法　130
附C2.2　常用電容器的種類和特點(diǎn)　130
附C2.3　電容器的主要性能指標(biāo)　131
附C3　常用數(shù)字集成電路型號(hào)及外引線排列圖　132
附C3.1　國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體集成電路型號(hào)命名法　132
附C3.2　國(guó)際TTL/CMOS數(shù)字集成電路主要生產(chǎn)公司和產(chǎn)品型號(hào)前綴　132
附C3.3　常用集成電路型號(hào)及其外引線排列圖　133
附C3.4　常用TTL數(shù)字集成電路型號(hào)及功能　140
附C3.5　常用CMOS數(shù)字集成電路型號(hào)及功能　143
附C3.6　部分?jǐn)?shù)字集成電路的功能　145參考文獻(xiàn)　161