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CMOS圖像傳感器封裝與測試技術

CMOS圖像傳感器封裝與測試技術

定 價:¥39.00

作 者: 陳榕庭
出版社: 電子工業(yè)出版社
叢編項: 微電子技術系列叢書
標 簽: 電子技術

ISBN: 9787121028519 出版時間: 2006-07-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 294 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

  本書首先介紹整個半導體封裝業(yè)的歷史及演進過程,然后以光感芯片為例說明晶圓廠的芯片制造過程,光感應芯片的應用范圍、結構及各種常見的CMOS模塊種類等。具體內(nèi)容涉及了材料使用、設備及各工序簡介、缺陷模式及熱效應分析、產(chǎn)品可靠性的測試方法,最后闡述了目前CMOS光感測試的最新技術及多樣化工序。 本書可作為微電子專業(yè)高年級本科生和研究生的教材,也可作為想從事或剛從事封裝測試產(chǎn)業(yè)的工程師或技術人員的參考。 本書中文簡體字版臺灣全華科技圖書股份公司獨家授權,僅限于中國大陸地區(qū)出版發(fā)行,未經(jīng)許可,不得以任何方式復制或抄襲本書的任何部分。

作者簡介

暫缺《CMOS圖像傳感器封裝與測試技術》作者簡介

圖書目錄

第1章 半導體封裝基本知識及CMOS圖像傳感器發(fā)展歷史
1-1    半導體的定義
1-2    何謂半導體封裝
1-3    現(xiàn)今半導體封裝與圖像傳感器發(fā)展趨勢
1-4    何謂半導體圖像傳感器
1-5    半導體圖像傳感器演變歷程
1-6    CMOS傳感器應用及市場規(guī)模預估
1-7    CMOS/CCD圖像傳感器的未來發(fā)展
參考文獻
第2章 半導體圖像傳感器封裝流程
2-1    CMOS光學圖像處理流程圖示
2-2    CMOS圖像光感應原理
2-3    半導體圖像傳感器--芯片制造流程
參考文獻
第3章 半導體圖像傳感器基本結構
3-1    半導體圖像傳感器與數(shù)碼相機
3-2    半導體圖像傳感器封裝技術的層次及功能
3-3    半導體圖像傳感器封裝種類
3-4    CMOS圖像傳感器模塊結構設計
參考文獻
第4章 半導體圖像傳感器封裝材料簡介
4-1    封裝材料簡介
4-2    高分子封裝材料的性質
4-3    金屬引線框和高分子基板的受力分析
參考文獻
第5章 半導體圖像傳感器封裝工藝介紹(半自動)
5-1    CMOS封裝設備簡介(半自動)
5-2    CMOS封裝前段制作工序(1)
5-3    CMOS封裝前段制作工序(2)
5-4    后段工序
參考文獻
第6章 半導體圖像傳感器封裝工藝介紹(全自動)
6-1    CMOS封裝工藝簡介(全自動)
6-2    前段工藝(1)、(2)
6-3    前段工藝(3)、(4)
第7章 半導體圖像傳感器封裝可靠性分析
7-1    產(chǎn)品可靠性的基本概念
7-2    可靠性測試的種類
7-3    可靠性試驗項目
7-4    可靠性分析實例
7-5    封裝散熱分析
參考文獻
第8章 材料界面的失效分析與設計
8-1    材料微結構鍵結
8-2    材料界面能量與分子結合
8-3    界面原子流動與熱能設計
8-4    封裝界面現(xiàn)象
參考文獻
第9章 測試概論
9-1    封裝的最終測試
9-2    測試與檢驗技術
9-3    CMOS邏輯IC最終測試類型及方法實例
參考文獻
第10章 新型工藝技術
10-1    LCOS基本概念
10-2    LCOS投影機的發(fā)展歷史
10-3    新型復合工藝技術
10-4    總結
參考文獻
第11章 半導體圖像傳感器相關技術名詞解釋
附錄A 常見的CMOS圖像傳感器各封裝工序失效模式

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