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當(dāng)前位置: 首頁出版圖書科學(xué)技術(shù)工業(yè)技術(shù)機(jī)械、儀表工業(yè)機(jī)械精度設(shè)計與檢測及標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用手冊

機(jī)械精度設(shè)計與檢測及標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用手冊

機(jī)械精度設(shè)計與檢測及標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用手冊

定 價:¥168.00

作 者: 張琳娜,趙鳳霞,鄭鵬 編
出版社: 化學(xué)工業(yè)出版社
叢編項:
標(biāo) 簽: 工業(yè)技術(shù) 機(jī)械/儀表工業(yè) 機(jī)械設(shè)計/計算與制圖

ISBN: 9787122197016 出版時間: 2015-01-01 包裝: 精裝
開本: 16開 頁數(shù): 599 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  《機(jī)械精度設(shè)計與檢測及標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用手冊》包括幾何精度設(shè)計基礎(chǔ)和幾何精度檢測基礎(chǔ)兩大部分,標(biāo)準(zhǔn)新,實用性強(qiáng)。其中,幾何精度設(shè)計部分主要闡述了極限與配合、形狀和位置精度、表面粗糙度、典型結(jié)合件、典型傳動件等精度設(shè)計中的基本概念、基本原則及應(yīng)用要點(diǎn);幾何精度檢測部分主要闡述了幾何精度檢測中的基礎(chǔ)知識、原理以及數(shù)據(jù)處理的方法等。具體內(nèi)容包括極限與配合,幾何精度,表面粗糙度,圓錐的公差與配合,螺紋的公差與配合,鍵和花鍵的公差與配合,齒輪的精度制,滾動軸承和滑動軸承的公差與配合,鑄件公差和沖壓件的公差,尺寸鏈,新一代GPS標(biāo)準(zhǔn)體系,測量技術(shù)基礎(chǔ),光滑工件尺寸的檢驗,幾何誤差的檢測,角度與錐體的檢測,螺紋的檢測,齒輪精度檢測。
  《機(jī)械精度設(shè)計與檢測及標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用手冊》可供從事機(jī)械設(shè)計、制造、標(biāo)準(zhǔn)化和計量測試等工作的工程技術(shù)人員參考使用,也可供大專院校機(jī)械類、儀器儀表類、近機(jī)類有關(guān)專業(yè)的師生參考使用。

作者簡介

張琳娜,鄭州大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院,教授/博導(dǎo),現(xiàn)任“全國高校互換性與測量技術(shù)基礎(chǔ)課程研究會”副理事長,“全國產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC240)”副主任委員,“中國計量測試學(xué)會”理事,中國計量測試學(xué)會計量儀器專業(yè)委員會常務(wù)委員,“河南省機(jī)械工程學(xué)會”常務(wù)理事?,F(xiàn)從事于CAD/CAPP/CAM、現(xiàn)代精度設(shè)計與控制、幾何量標(biāo)準(zhǔn)計量及應(yīng)用技術(shù)等方面的研究工作。主要研究方向有:產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)理論及應(yīng)用技術(shù)、產(chǎn)品幾何特征信息建模及CAD/CAE/CAT集成技術(shù)、工序精度CAPP及開發(fā)工具技術(shù)、基于GPS的數(shù)字化計量技術(shù)及應(yīng)用、微納米測量認(rèn)證技術(shù)、傳感器及精密測試技術(shù)、面向制造過程的質(zhì)量管理與控制(CAQS)技術(shù)研究等。圍繞主導(dǎo)研究方向,近年來發(fā)表學(xué)術(shù)論文50余篇,已被EI等收錄12篇;出版著作及工具書5部;取得主要科研成果10項,其中包括國家“八五”、“十五”重點(diǎn)攻關(guān)、“863”子項、省部重大攻關(guān)及重大自然科學(xué)基金等;獲得省部級科技進(jìn)步獎勵8項,研究成果通過了河南省科技廳鑒定6項。作為對口ISO/TC213的我國SAC/TC240的委員,直接參與了我國GPS標(biāo)準(zhǔn)體系的建立及“GB/Z 20308-2006 GPS總體規(guī)劃”的制訂工作,作為主要編制人完成系列國家GPS標(biāo)準(zhǔn)二十余項。近年來承擔(dān)完成“GPS標(biāo)準(zhǔn)體系的理論基礎(chǔ)研究及有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定”、“CAD/CAM集成環(huán)境下計算機(jī)輔助精度設(shè)計與控制”、“基于GPS不確定度理論及數(shù)字化計量認(rèn)證技術(shù)研究”和“產(chǎn)品幾何公差數(shù)字化計量工具系統(tǒng)及關(guān)鍵技術(shù)研究”等國家和省部級重點(diǎn)攻關(guān)課題多項。

圖書目錄

第1章互換性概論
1.1互換性概論
1.1.1互換性的含義
1.1.2互換性的分類
1.1.3互換性的作用
1.2優(yōu)先數(shù)和優(yōu)先數(shù)系
1.2.1術(shù)語和定義
1.2.2系列的種類和代號
1.2.3優(yōu)先數(shù)系的主要特性(GB/T17963—2005)
1.2.4應(yīng)用原則

第2章極限與配合
2.1極限與配合的基礎(chǔ)(GB/T1800.1—2009)
2.1.1術(shù)語和定義
2.1.2公差、偏差和配合的代號及表示
2.2標(biāo)準(zhǔn)公差和基本偏差系列(GB/T1800.1—2009)
2.2.1標(biāo)準(zhǔn)公差系列(GB/T1800.1—2009)
2.2.2基本偏差系列(GB/T1800.1—2009)
2.2.3公稱尺寸大于3150~1000mm的標(biāo)準(zhǔn)公差和基本偏差(GB/T1801—2009)
2.2.4孔、軸極限偏差表(GB/T1800.2—2009)
2.3公差帶與配合的標(biāo)準(zhǔn)化
2.3.1公稱尺寸至500mm公差帶與配合的規(guī)定
2.3.2公稱尺寸大于500~3150mm公差帶與配合的規(guī)定
2.3.3公稱尺寸至18mm軸、孔公差帶的規(guī)定(GB/T1803—2003)
2.4未注公差的線性和角度尺寸的公差(GB/T1804—2000)
2.4.1適用范圍
2.4.2總則
2.4.3一般公差的公差等級和極限偏差數(shù)值
2.4.4一般公差的圖樣表示法
2.4.5線性和角度尺寸的一般公差的概念和解釋
2.5尺寸精度及配合的設(shè)計
2.5.1尺寸精度及配合的設(shè)計方法
2.5.2尺寸精度及配合的設(shè)計
2.5.3應(yīng)用示例分析
2.6尺寸公差與配合的注法(GB/T4458.5—2003)
2.6.1在零件圖中的標(biāo)注方法
2.6.2在裝配圖中的標(biāo)注方法
2.6.3角度公差的標(biāo)注方法

第3章幾何公差
3.1幾何公差的定義及標(biāo)注(GB/T1182—2008)
3.1.1幾何公差各項目及有關(guān)符號
3.1.2幾何公差的研究對象——幾何要素
3.1.3公差帶
3.1.4幾何公差圖樣標(biāo)注的基本規(guī)則
3.1.5幾何公差的定義
3.1.6應(yīng)用示例
3.2基準(zhǔn)和基準(zhǔn)體系(GB/T17851—2010)
3.2.1術(shù)語定義
3.2.2基準(zhǔn)和基準(zhǔn)體系的標(biāo)注
3.2.3基準(zhǔn)的建立和體現(xiàn)
3.2.4基準(zhǔn)的應(yīng)用
3.2.5基準(zhǔn)目標(biāo)
3.3幾何公差與尺寸公差的關(guān)系
3.3.1術(shù)語定義
3.3.2獨(dú)立原則
3.3.3相關(guān)要求
3.4幾何公差的公差值及其選用(GB/T1184—1996)
3.4.1幾何公差的注出公差值
3.4.2形位公差的未注公差值
3.5幾何公差的設(shè)計
3.5.1幾何公差項目的選用
3.5.2基準(zhǔn)的確定
3.5.3注出幾何公差值的選用原則

第4章表面粗糙度及其檢測
4.1表面粗糙度的術(shù)語、定義及參數(shù)(GB/T3505—2009)
4.1.1術(shù)語及定義
4.1.2表面評定的流程圖
4.1.3GB/T3505—2009與GB/T3505—1983的基本術(shù)語與參數(shù)符號比較
4.2表面粗糙度的參數(shù)及其數(shù)值(GB/T1031—2009)
4.2.1評定表面粗糙度的參數(shù)及其數(shù)值系列
4.2.2取樣長度的數(shù)值和選用
4.2.3規(guī)定表面粗糙度要求的一般規(guī)則
4.2.4評定表面粗糙度參數(shù)的補(bǔ)充系列值
4.3技術(shù)產(chǎn)品文件中表面結(jié)構(gòu)的表示法(GB/T131—2006)
4.3.1表面結(jié)構(gòu)的符號和代號
4.3.2在圖樣和其他技術(shù)產(chǎn)品文件中的位置
4.3.3標(biāo)注示例
4.3.4表面結(jié)構(gòu)要求的圖形標(biāo)注的演化
4.4表面粗糙度的選擇與應(yīng)用
4.4.1評定參數(shù)的選用
4.4.2評定參數(shù)值的選用原則
4.4.3表面粗糙度的選用實例
4.5表面粗糙度的檢測
4.5.1比較法
4.5.2光切法
4.5.3干涉法
4.5.4針描法
4.5.5掃描隧道顯微鏡
4.5.6原子力顯微鏡

第5章圓錐的公差與配合
5.1圓錐的錐度與錐角系列(GB/T157—2001)
5.1.1術(shù)語及定義
5.1.2一般用途的錐度與錐角系列
5.1.3特定用途的圓錐
5.2圓錐公差(GB/T11334—2005)
5.2.1術(shù)語及定義
5.2.2圓錐公差
5.2.3圓錐直徑公差所能限制的最大圓錐角誤差
5.2.4圓錐公差按給出圓錐的理論正確圓錐角和圓錐直徑公差時的標(biāo)注
5.3圓錐配合(GB/T12360—2005)
5.3.1圓錐配合的特征
5.3.2圓錐配合的一般規(guī)定
5.3.3圓錐角偏離基本圓錐角時對圓錐配合的影響
5.3.4內(nèi)圓錐或外圓錐的圓錐軸向極限偏差的計算
5.3.5基準(zhǔn)平面間極限初始位置和極限終止位置的計算
5.4圓錐的尺寸和公差注法(GB/T15754—1995)
5.4.1圓錐的尺寸注法
5.4.2圓錐的公差注法
5.4.3基本錐度法
5.4.4公差錐度法

第6章螺紋的公差與配合
6.1螺紋結(jié)合互換性的基本概念(GB/T14791—1993)
6.1.1螺紋結(jié)合中的術(shù)語及定義
6.1.2螺紋幾何要素誤差對螺紋互換性的影響
6.2普通螺紋
6.2.1普通螺紋的基本牙型(GB/T192—2003)
6.2.2普通螺紋的直徑與螺距系列(GB/T192—2003)
6.2.3普通螺紋的基本尺寸(GB/T196—2003)
6.2.4普通螺紋的公差(GB/T197—2003)
6.2.5普通螺紋的極限偏差(GB/T2516—2003)
6.2.6普通螺紋的管路系列(GB/T1414—2003)
6.2.7普通螺紋的優(yōu)選系列(GB/T9144—2003)
6.2.8普通螺紋的中等精度、優(yōu)選系列的極限尺寸(GB/T9145—2003)
6.2.9普通螺紋的粗糙精度、優(yōu)選系列的極限尺寸(GB/T9146—2003)
6.3管螺紋
6.3.155°密封管螺紋(GB/T7306—2000)
6.3.255°非密封管螺紋(GB/T7307—2001)
6.3.360°密封管螺紋(GB/T12716—2011)
6.4我國常用螺紋標(biāo)準(zhǔn)

第7章鍵與花鍵的公差與配合
7.1平鍵的公差與配合
7.1.1普通型平鍵(GB/T1096—2003)
7.1.2平鍵鍵槽的剖面尺寸(GB/T1095—2003)
7.1.3導(dǎo)向型平鍵(GB/T1097—2003)
7.1.4薄型平鍵鍵槽的剖面尺寸(GB/T1566—2003)
7.1.5薄型平鍵(GB/T1567—2003)
7.2楔鍵的公差與配合
7.2.1普通型楔鍵(GB/T1564—2003)
7.2.2楔鍵鍵槽的剖面尺寸(GB/T1563—2003)
7.2.3鉤頭型楔鍵(GB/T1565—2003)
7.3半圓鍵的公差與配合
7.3.1半圓鍵鍵槽的剖面尺寸(GB/T1098—2003)
7.3.2普通型半圓鍵(GB/T1099.1—2003)
7.4切向鍵及其鍵槽(GB/T1974—2003)
7.4.1尺寸與公差
7.4.2技術(shù)條件
7.4.3標(biāo)記
7.5矩形花鍵的公差與配合(GB/T1144—2001)
7.5.1矩形花鍵的系列與基本尺寸
7.5.2公差與配合
7.5.3檢驗規(guī)則
7.5.4標(biāo)記
7.5.5矩形花鍵綜合通規(guī)和單項止規(guī)的尺寸公差帶和數(shù)值表
7.6直齒漸開線花鍵的公差與配合(GB/T3478.1—2008)
7.6.1術(shù)語、代號和定義
7.6.2漸開線花鍵的基本參數(shù)
7.6.3漸開線花鍵的尺寸系列
7.6.4漸開線花鍵的公差等級與公差
7.6.5漸開線花鍵的配合
7.6.6漸開線花鍵的檢驗
7.6.7漸開線花鍵的參數(shù)標(biāo)注

第8章齒輪的精度制
8.1輪齒同側(cè)齒面偏差的定義和允許值(GB/T10095.1—2008)
8.1.1輪齒同側(cè)齒面偏差的術(shù)語及定義
8.1.2齒輪精度制的構(gòu)成
8.2徑向綜合偏差與徑向跳動的定義和允許值(GB/T10095.2—2008)
8.2.1徑向綜合偏差與徑向跳動的術(shù)語及定義
8.2.2齒輪精度制的構(gòu)成
8.3側(cè)隙和齒厚極限偏差(GB/Z18620.2—2008)
8.3.1側(cè)隙的術(shù)語及定義
8.3.2最小法向側(cè)隙的確定
8.3.3齒厚及齒厚偏差
8.3.4公法線長度及公法線長度偏差
8.3.5最大側(cè)隙
8.4齒輪副和齒輪坯的精度(GB/Z18620.3—2008)
8.4.1齒輪副的精度
8.4.2齒輪坯的精度
8.5圓柱齒輪精度設(shè)計
8.5.1齒輪精度等級的選用
8.5.2最小側(cè)隙和齒厚偏差的確定
8.5.3檢驗項目的選擇
8.5.4齒坯及箱體精度的確定
8.5.5齒輪精度設(shè)計實例
8.6我國新舊齒輪精度制的差異分析
8.6.1GB/T10095—1988對圓柱齒輪規(guī)定的公差組及評定指標(biāo)
8.6.2GB/T10095.1,2—2008對單個齒輪規(guī)定的評定指標(biāo)
8.6.3GB/T10095—1988與齒輪精度制新國標(biāo)的對照
8.6.4新舊國家標(biāo)準(zhǔn)的異同點(diǎn)分析

第9章滾動軸承的公差與配合
9.1滾動軸承的公差
9.1.1滾動軸承的公差定義(GB/T4199—2003)
9.1.2滾動軸承的通用技術(shù)規(guī)則(GB/T307.3—2005)
9.1.3向心軸承公差(GB/T307.1—2005)
9.1.4推力軸承公差(GB/T307.4—2012)
9.1.5儀器用精密軸承公差(GB/T5800.1—2012)
9.1.6滾針軸承公差(GB/T5801—2006)
9.1.7滾輪滾針軸承公差(GB/T6445—2007)
9.2滾動軸承與軸和殼體孔的配合
9.2.1滾動軸承配合的特點(diǎn)
9.2.2滾動軸承與軸和外殼的配合(GB/T275—1993)

第10章滑動軸承的公差與配合
10.1滑動軸承公差
10.1.1銅合金整體軸套(GB/T18324—2001)
10.1.2卷制軸套(GB/T12613.1—2011)
10.1.3粉末冶金軸承(GB/T2685~2687—1981)
10.1.4剖分式無翻邊薄壁軸瓦(GB/T3162—1992)
10.1.5剖分式帶翻邊薄壁軸瓦(GB/T7308—2008)
10.1.6軋機(jī)油膜軸承(GB/T13345—1992)
10.2滑動軸承的配合與間隙

第11章鑄件公差和沖壓件公差
11.1鑄件公差(GB/T6414—1999)
11.1.1術(shù)語與定義
11.1.2尺寸公差
11.1.3鑄造公差
11.2沖壓件公差
11.2.1沖壓件尺寸公差
11.2.2沖壓件角度公差
11.2.3沖壓件未注公差尺寸極限偏差
11.2.4沖壓件形狀和位置未注公差

第12章尺寸鏈
12.1尺寸鏈的基本概念
12.1.1尺寸鏈的術(shù)語和定義
12.1.2尺寸鏈的分類
12.1.3尺寸鏈環(huán)的特征符號
12.2尺寸鏈的計算方法
12.2.1計算參數(shù)
12.2.2計算公式
12.2.3尺寸鏈的計算種類
12.2.4裝配尺寸鏈的計算方法
12.2.5裝配尺寸鏈計算順序
12.2.6相對不對稱系數(shù)e與相對分布系數(shù)k的取值
12.3尺寸鏈計算示例
12.3.1完全互換法計算示例
12.3.2裝配尺鏈計算示例

第13章新一代GPS標(biāo)準(zhǔn)體系
13.1產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)概述
13.1.1GPS概述
13.1.2GPS標(biāo)準(zhǔn)體系的起源與發(fā)展
13.2新一代GPS標(biāo)準(zhǔn)體系的構(gòu)成及規(guī)律分析
13.2.1新一代GPS體系的結(jié)構(gòu)
13.2.2新一代GPS體系構(gòu)成規(guī)律及矩陣模型分析
13.2.3新一代GPS體系的應(yīng)用特點(diǎn)分析
13.3新一代GPS體系的理論基礎(chǔ)及關(guān)鍵技術(shù)
13.3.1新一代GPS體系的系統(tǒng)流程及結(jié)構(gòu)模型
13.3.2新一代GPS體系的數(shù)字化描述基礎(chǔ)
13.3.3新一代GPS體系的對偶性及操作技術(shù)
13.3.4新一代GPS體系的不確定度構(gòu)成及其關(guān)系
13.3.5新一代GPS測量不確定度的評定與管理

第14章測量技術(shù)基礎(chǔ)
14.1測量的基本概念
14.1.1測量及測量四要素
14.1.2檢驗、計量、測試與測量
14.2測量基準(zhǔn)和尺寸傳遞系統(tǒng)
14.2.1測量基準(zhǔn)和尺寸傳遞系統(tǒng)
14.2.2量塊
14.2.3線紋尺
14.3測量方法和計量器具
14.3.1測量方法分類
14.3.2計量器具的分類
14.3.3計量器具的基本度量指標(biāo)
14.4測量誤差及數(shù)據(jù)處理
14.4.1測量誤差的基本概念
14.4.2隨機(jī)誤差的特性及評定
14.4.3系統(tǒng)誤差的發(fā)現(xiàn)與消除
14.4.4粗大誤差的判別與剔除
14.4.5測量結(jié)果的數(shù)據(jù)處理實例
14.4.6誤差的合成與分配
14.5測量不確定度
14.5.1概述
14.5.2測量不確定度的定義
14.5.3標(biāo)準(zhǔn)不確定度的評定
14.5.4測量不確定度的合成
14.6測量技術(shù)中的基本原則簡介
14.6.1阿貝測長原則
14.6.2閉合原則
14.6.3最小變形原則
14.6.4最短測量鏈原則
14.6.5基準(zhǔn)統(tǒng)一原則
14.6.6重復(fù)原則
14.6.7隨機(jī)原則

第15章光滑工件尺寸的檢測
15.1光滑工件尺寸的檢驗
15.1.1光滑工件尺寸的檢驗(GB/T3177—2009)
15.1.2用通用計量器具檢驗長度尺寸的方法及示例
15.2量規(guī)及公差
15.2.1光滑極限量規(guī)(GB/T1957—2006)
15.2.2功能量規(guī)(GB/T8069—1998)

第16章角度與錐體的檢測
16.1概述
16.1.1角度的單位
16.1.2角度的基準(zhǔn)
16.1.3角度的測量方法
16.2角度的相對測量
16.2.1用角度量塊及多面棱體測量角度
16.2.2用直角尺測量角度(GB/T6092—2004)
16.2.3用正弦量角規(guī)測量角度
16.2.4用角度樣板和量規(guī)檢驗角度
16.3角度的絕對測量
16.3.1用萬能量角器測量角度
16.3.2用水平儀測量角度
16.3.3用光學(xué)分度頭測量角度
16.3.4用分度臺測量角度
16.3.5用精密測角儀測量角度
16.3.6用經(jīng)緯儀測量角度
16.4角度的間接測量
16.4.1用正弦規(guī)測量角度(GB/T22526—2008)
16.4.2用圓柱或圓球測量燕尾角度
16.4.3用圓柱測量V形槽角度
16.4.4用圓球測內(nèi)、外錐體角度
16.4.5用萬能工具顯微鏡測量錐體角度
16.5小角度測量
16.5.1用自準(zhǔn)直儀測量小角度
16.5.2用激光小角度干涉儀測量小角度
16.6角度測量的幾種新技術(shù)簡介
16.6.1圓光柵
16.6.2圓磁柵
16.6.3感應(yīng)同步器
16.6.4角編碼器
16.6.5環(huán)形激光

第17章幾何誤差檢測
17.1幾何誤差的檢測規(guī)定(GB/T1958—2004)
17.1.1幾何誤差檢測基礎(chǔ)
17.1.2形狀誤差及其評定
17.1.3位置誤差及其評定
17.1.4幾何誤差的檢測方案
17.2直線度誤差檢測
17.2.1直線度誤差檢測(GB11336—2004)
17.2.2基于新一代GPS的直線度誤差檢測中的術(shù)語和參數(shù)
(GB/T24631.1—2009)
17.2.3基于新一代GPS的直線度誤差檢測中的規(guī)范操作集
(GB/T24631.2—2009)
17.2.4直線度誤差檢測的國家標(biāo)準(zhǔn)對比分析
17.3平面度誤差檢測
17.3.1平面度誤差檢測(GB/T113316—2004)
17.3.2基于新一代GPS的平面度誤差檢測中的術(shù)語和參數(shù)
(GB/T24630.1—2009)
17.3.3基于新一代GPS的平面度誤差檢測中的規(guī)范操作集
(GB/T24630.2—2009)
17.3.4平面度誤差檢測的國家標(biāo)準(zhǔn)對比分析
17.4圓度誤差檢測
17.4.1圓度誤差檢測
17.4.2基于新一代GPS的圓度誤差檢測中的術(shù)語和參數(shù)(GB/T24632.1—2009)
17.4.3基于新一代GPS的圓度誤差檢測中的規(guī)范操作集(GB/T24632.2—2009)
17.4.4圓度誤差檢測的國家標(biāo)準(zhǔn)對比分析
17.5圓柱度誤差檢測
17.5.1基于新一代GPS的圓柱度誤差檢測中的術(shù)語和參數(shù)
(GB/T24633.1—2009)
17.5.2基于新一代GPS的圓柱度誤差檢測中的規(guī)范操作集
(GB/T24633.2—2009)

第18章螺紋的檢測
18.1螺紋的檢測方法
18.1.1綜合檢驗
18.1.2單項測量
18.2檢測螺紋用的量規(guī)
18.2.1檢測圓柱螺紋用的量規(guī)
18.2.2檢測圓錐螺紋用的量規(guī)
18.3螺紋的單項測量
18.3.1圓柱螺紋的單項測量
18.3.2圓錐螺紋的單項測量
18.3.3絲杠的測量

第19章齒輪精度的檢測
19.1圓柱齒輪的測量基礎(chǔ)
19.1.1術(shù)語和定義
19.1.2測量基準(zhǔn)的要求
19.1.3不同測量方向偏差值的換算
19.2齒輪偏差檢驗
19.2.1齒距偏差檢驗
19.2.2齒廓偏差檢驗
19.2.3螺旋偏差檢驗
19.2.4切向綜合偏差檢驗
19.2.5徑向綜合偏差檢驗
19.2.6徑向跳動檢驗
19.3整體偏差檢驗
19.3.1整體偏差檢驗
19.3.2測量方法和測量儀器
19.3.3測量條件和測量位置
19.3.4測量不確定度
19.3.5測量結(jié)果處理
19.4替代項目的檢驗
19.4.1公法線檢驗
19.4.2基節(jié)偏差的檢驗
19.4.3接觸線偏差的檢驗
19.4.4軸向齒距偏差的檢驗
19.4.5螺旋線波度偏差的檢驗
19.4.6齒厚檢驗
19.4.7齒輪副接觸斑點(diǎn)的檢驗
19.4.8齒輪副側(cè)隙的檢驗
19.5GB/T13924—2008與GB/Z18620.1~4—2008的差異性分析
19.5.1GB/T13924與GB/Z18620.1~4之間的聯(lián)系
19.5.2GB/T13924與GB/Z18620.1~4的差異性
標(biāo)準(zhǔn)索引
參考文獻(xiàn)

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