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當(dāng)前位置: 首頁出版圖書科學(xué)技術(shù)自然科學(xué)化學(xué)X射線熒光光譜分析(第二版)

X射線熒光光譜分析(第二版)

X射線熒光光譜分析(第二版)

定 價:¥68.00

作 者: 羅立強,詹秀春,李國會 著
出版社: 化學(xué)工業(yè)出版社
叢編項:
標(biāo) 簽: 分析化學(xué) 化學(xué) 自然科學(xué)

ISBN: 9787122228611 出版時間: 2015-05-01 包裝: 精裝
開本: 16開 頁數(shù): 270 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

《X射線熒光光譜分析(第二版)》系統(tǒng)闡述了X射線熒光光譜分析(XRFS)基本原理,介紹了XRFS光譜儀及主要組成部件,特別是X射線激發(fā)源和X射線探測器的工作原理,強調(diào)了新型X射線激發(fā)源和探測器如聚焦毛細管X射線透鏡、硅漂移探測器和超導(dǎo)探測器等的研究進展和特征性能。對開展XRFS分析所需的定性與定量分析方法、元素間基體校正、化學(xué)計量學(xué)計算等做了較詳細的描述,評介了各方法的特點、局限及選用原則。在XRFS分析中,樣品制備技術(shù)具有特殊的重要性,因此單獨成章,以使讀者對其有深刻認識并能靈活運用。在儀器與維護方面,分析了不同儀器的特性,提供了一定的具有共性的儀器校正方法、日常維護知識和故障判斷原則。近年來,微區(qū)XRFS技術(shù)發(fā)展迅速,因此《X射線熒光光譜分析(第二版)》也分別介紹了同步輻射X射線熒光與光譜分析技術(shù)與應(yīng)用、微區(qū)X射線熒光光譜分析與應(yīng)用。同時還篇幅綜述了XRFS在地質(zhì)、冶金、材料、考古、生物與環(huán)境等領(lǐng)域的研究進展與實際應(yīng)用。希望可為廣大讀者提供可以借鑒和參考的信息。
  《X射線熒光光譜分析(第二版)》可供X射線熒光光譜分析工作者學(xué)習(xí)參考,同時也可作為高等學(xué)校分析化學(xué)、分析儀器及相關(guān)專業(yè)師生的參考書。

作者簡介

羅立強,男,1959年10月生,湖北荊州人,博士,研究員,博士研究生導(dǎo)師,國家地質(zhì)實驗測試中心副主任。1982畢業(yè)于長春地質(zhì)學(xué)院巖化系,獲工學(xué)學(xué)士學(xué)位;1987在中國地質(zhì)科學(xué)院研究生部獲理學(xué)碩士學(xué)位;1997年在中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所獲工學(xué)博士學(xué)位;2003-2005年在加拿大McMaster大學(xué)從事博士后研究。1997年首批入選國土資源部百名跨世紀(jì)科技人才計劃。研究領(lǐng)域及研究方向為X射線光譜分析技術(shù)應(yīng)用研究、流體地球化學(xué)和生物環(huán)境地球化學(xué)研究。作為項目負責(zé)人承擔(dān)的國家級項目包括:國家計委重大科學(xué)工程項目“中國大陸科學(xué)鉆探工程”流體地球化學(xué)研究;國家自然科學(xué)基金“知識工程與無標(biāo)樣X射線光譜分析體系研究”;國家自然科學(xué)基金,“神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)與X射線光譜分析研究”,是國家自然科學(xué)基金重大項目課題“大陸科學(xué)鉆探孔區(qū)地下深部流體與微生物研究”項目負責(zé)人。2004年受歐洲X射線光譜分析大會邀請赴意大利作特邀報告。已在國內(nèi)外公開發(fā)表各種論文、著作、譯文等70余篇。
  擔(dān)任中國地質(zhì)學(xué)會巖礦測試專業(yè)委員會秘書長,北京市地質(zhì)學(xué)會理事,中國地質(zhì)科學(xué)院科學(xué)技術(shù)委員會委員,國際《X-Ray Spectrometry》雜志副主編,國際《Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry》雜志副主編,《巖礦測試》主編,《光譜學(xué)與光譜分析》編委。

圖書目錄

第一章 緒論
第一節(jié) X射線熒光光譜的產(chǎn)生及其特點
第二節(jié) X射線熒光分析技術(shù)的新應(yīng)用
一、在生物、生命及環(huán)境領(lǐng)域中的應(yīng)用
二、在材料及毒性物品監(jiān)測中的應(yīng)用
第三節(jié) X射線熒光光譜儀研制進展
參考文獻

第二章 基本原理
第一節(jié) 特征X射線的產(chǎn)生與特性
一、特征X射線
二、特征譜線系
三、譜線相對強度
四、熒光產(chǎn)額
第二節(jié) X射線吸收
一、X射線衰減
二、吸收邊
三、吸收躍變
四、質(zhì)量衰減系數(shù)的計算
第三節(jié) X射線散射
一、相干散射
二、非相干散射
第四節(jié) X射線熒光光譜分析原理
第五節(jié) X射線衍射分析
參考文獻

第三章 激發(fā)源
第一節(jié) 常規(guī)X射線光管
一、光管結(jié)構(gòu)與工作原理
二、連續(xù)X射線譜
三、特征X射線譜
四、光管特性
第二節(jié) 液體金屬陽極X射線光管
第三節(jié) 冷X射線光管
第四節(jié) 單色與選擇激發(fā)
一、濾光片
二、二次靶
第五節(jié) 同位素源
第六節(jié) 同步輻射光源與粒子激發(fā)
第七節(jié) 聚束毛細管X射線透鏡
第八節(jié) X射線激光光源
參考文獻

第四章 探測器
第一節(jié) 波長色散探測器
一、流氣式氣體正比計數(shù)器
二、NaI閃爍計數(shù)器
三、波長色散探測器的逃逸峰
第二節(jié) 能量探測器
一、能量探測原理
二、能量探測器組成與特性
三、能量探測器的逃逸峰
第三節(jié) 新型能量探測器
一、Ge探測器
二、SiPIN探測器
三、Si漂移探測器
四、電耦合陣列探測器
五、超導(dǎo)躍變微熱量感應(yīng)器
六、超導(dǎo)隧道結(jié)探測器
七、CdZnTe探測器
八、鉆石探測器
九、無定形硅探測器
第四節(jié) 各種探測器性能比較
一、波長色散與能量色散能力
二、探測器分辨率比較
三、探測器的選用
參考文獻

第五章 X射線熒光光譜儀
第一節(jié) 波長色散X射線熒光光譜儀
一、X射線光管、探測器與光譜儀結(jié)構(gòu)
二、分光晶體及分辨率
三、脈沖放大器和脈高分析器
第二節(jié) 能量色散X射線熒光光譜儀
第三節(jié) 同位素源激發(fā)X射線熒光光譜儀
第四節(jié) 偏振激發(fā)X射線熒光光譜儀
第五節(jié) 全反射X射線熒光光譜儀
第六節(jié) 聚束毛細管透鏡微束XRF光譜儀
參考文獻

第六章 定性與定量分析方法
第一節(jié) 定性分析
第二節(jié) 定量分析
一、獲取譜峰凈強度
二、干擾校正
三、濃度計算
第三節(jié) 數(shù)學(xué)校正法
第四節(jié) 實驗校正方法
一、標(biāo)準(zhǔn)化
二、內(nèi)標(biāo)法
三、標(biāo)準(zhǔn)添加法
四、散射線內(nèi)標(biāo)法
第五節(jié) 實驗校正實例——散射線校正方法
一、散射效應(yīng)與利用
二、濾光片對Compton峰和分析譜線的影響
三、準(zhǔn)直器直徑對譜線的影響
四、Compton峰位隨濾光片材料的原子序數(shù)增加而產(chǎn)生漂移
參考文獻

第七章 基體校正
第一節(jié) 基本參數(shù)法
一、理論熒光強度
二、相關(guān)基本參數(shù)計算
三、基本參數(shù)法
第二節(jié) 理論校正系數(shù)
一、基本影響系數(shù)
二、理論校正系數(shù)
三、系數(shù)變換
參考文獻

第八章 分析誤差和統(tǒng)計不確定
第一節(jié) 分析誤差和分布函數(shù)
一、分析誤差
二、分布函數(shù)
第二節(jié) 計數(shù)統(tǒng)計學(xué)
第三節(jié) 靈敏度、檢出限及XRF中的誤差來源
一、靈敏度和檢出限
二、XRF中的誤差來源
第四節(jié) 不確定度及不確定度計算
一、測量不確定度
二、統(tǒng)計不確定度
三、誤差傳遞與不確定度
四、不確定度計算式
五、平均值的不確定度計算
六、統(tǒng)計波動
參考文獻

第九章 XRF中的化學(xué)計量學(xué)方法和應(yīng)用
第一節(jié) 曲線擬合與遺傳算法
一、遺傳算法
二、遺傳算法在XRF中的應(yīng)用
三、不同擬合方法的比較
第二節(jié) 基體校正與神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
一、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的發(fā)展與學(xué)習(xí)規(guī)則
二、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型——誤差反傳學(xué)習(xí)算法
三、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)及相關(guān)化學(xué)計量學(xué)方法在XRF中的應(yīng)用
第三節(jié) 模式識別
一、模式識別方法與特性
二、支持向量機
三、模式識別方法在XRF中的應(yīng)用
參考文獻

第十章 樣品制備
第一節(jié) 制樣技術(shù)分類
第二節(jié) 分析制樣中的一般問題
一、樣品的表面狀態(tài)
二、不均勻性效應(yīng)
三、樣品粒度與制樣壓力
四、X射線分析深度與樣品厚度
五、樣品的光化學(xué)分解
六、其他問題
七、試樣裝入
八、污染控制
九、測定時須小心的樣品
第三節(jié) 金屬樣品的制備
一、取樣
二、金屬樣品的制備方法
第四節(jié) 粉末樣品的制備
一、粉末壓片法
二、玻璃熔片法
三、松散粉末法
第五節(jié) 液體樣品
一、液體法
二、點滴法
三、富集法
四、固化法
第六節(jié) 其他類型樣品的制備
一、塑料樣品的制備方法
二、放射性樣品
第七節(jié) 微少量、微小樣品的制備
第八節(jié) 低原子序數(shù)元素分析的特殊問題
第九節(jié) 樣品制備實例
一、全巖分析
二、石灰、白云石石灰和鐵石灰
三、石灰石、白云石和菱鎂礦
四、天然石膏及石膏副產(chǎn)品
五、玻璃砂
六、水泥
七、氧化鋁
八、電解液
九、煤衍生物——瀝青
十、樹葉和植物
參考文獻

第十一章 X射線熒光光譜儀的特性與參數(shù)選擇
第一節(jié) 波長色散型X射線熒光光譜儀的特性與技術(shù)進展
第二節(jié) X射線高壓發(fā)生器
第三節(jié) X射線光管特性與選擇使用
第四節(jié) 濾光片、光闌和準(zhǔn)直器
第五節(jié) 晶體適用范圍及其選擇
第六節(jié) 2θ聯(lián)動裝置
第七節(jié) 測角儀
第八節(jié) 探測器特性與使用
一、閃爍計數(shù)器
二、氣體正比計數(shù)器
三、探測器的選擇標(biāo)準(zhǔn)
第九節(jié) 脈沖高度分析器
第十節(jié) 實驗參數(shù)的選擇
一、儀器參數(shù)的選擇
二、光學(xué)參數(shù)的選擇
三、探測器與測量參數(shù)的選擇
第十一節(jié) 能量色散XRF光譜儀的特性和注意事項
第十二節(jié) 全反射X射線熒光光譜儀特性與設(shè)計要點
參考文獻

第十二章 儀器檢定、校正與維修
第一節(jié) 儀器檢定
一、實驗室條件
二、檢驗項目及測量方法
三、技術(shù)指標(biāo)
第二節(jié) 脈沖高度分析器的調(diào)整及儀器漂移的標(biāo)正
一、脈沖高度分析器的調(diào)整
二、儀器漂移的校正
第三節(jié) 日常維護
一、真空泵油位檢查
二、P10氣體的更換
三、高壓漏氣檢測
四、密閉冷卻水循環(huán)系統(tǒng)的檢測
五、檢查初級水過濾器
六、X射線光管的老化
七、日常檢查項目
第四節(jié) 常見故障及維護
一、機械問題
二、X射線高壓發(fā)生器
三、真空度不好
四、探測器的故障
五、樣品室灰塵的清掃
第五節(jié) 儀器選型常用標(biāo)準(zhǔn)與判據(jù)
一、硬件
二、軟件
參考文獻

第十三章 同步輻射X射線熒光光譜分析技術(shù)與應(yīng)用
第一節(jié) 同步輻射技術(shù)的特點與發(fā)展
一、同步輻射的特點
二、同步輻射裝置的現(xiàn)狀和發(fā)展
第二節(jié) 同步輻射原理
一、同步輻射裝置
二、同步輻射基本線站及應(yīng)用
第三節(jié) 同步輻射X射線熒光分析技術(shù)
一、SRXRF技術(shù)的優(yōu)勢
二、SRXRF實驗裝置
三、SRXRF應(yīng)用
第四節(jié) 同步輻射X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜與應(yīng)用
一、XAFS原理
二、XAFS譜測定方法
三、XAFS實驗方法
四、XANES原理及應(yīng)用
五、EXAFS
參考文獻

第十四章 微區(qū)X射線熒光光譜分析與應(yīng)用
第一節(jié) 發(fā)展歷程與研究現(xiàn)狀
第二節(jié) 實驗裝置
第三節(jié) 研究應(yīng)用
一、顆粒物分析
二、生物樣品分析
三、地質(zhì)樣品分析
四、考古樣品分析
五、司法鑒定和指紋樣品分析
六、三維信息獲取
參考文獻

第十五章 X射線熒光光譜在地質(zhì)冶金樣品分析中的應(yīng)用
第一節(jié) 冶金樣品分析
一、合金樣品
二、涂層分析
三、礦石原料
四、爐渣分析
五、添加劑
第二節(jié) 文物樣品分析
一、古陶瓷分析
二、繪畫顏料
三、古玻璃制品
四、古金屬制品
第三節(jié) 地質(zhì)樣品分析
一、地質(zhì)樣品分析
二、現(xiàn)場分析
參考文獻

第十六章 X射線熒光光譜在生物和環(huán)境樣品分析中的應(yīng)用
第一節(jié) 生物樣品分析
一、植物樣品分析
二、動物樣品分析
三、人體樣品分析
四、細胞分析
五、金屬蛋白質(zhì)分析
第二節(jié) 環(huán)境樣品分析
一、工業(yè)廢棄物
二、礦山污染物
三、城市污染物
第三節(jié) 大氣顆粒物分析
一、來源與危害
二、成分分析
三、元素形態(tài)分析
第四節(jié) 活體分析
一、活體分析裝置
二、骨鉛與骨鍶分析
三、腎活體分析
參考文獻

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