現(xiàn)代巖礦分析實(shí)驗(yàn)教程

前言
第1章 樣品加工
1．1 樣品加工原則和基本要求
1．2 樣品縮分公式——切喬特公式
1．2．1 切喬特公式及其物理意義
1．2．2 樣品的最低可靠質(zhì)量
1．2．3 縮分系數(shù)K值及其確定
1．2．4 切喬特公式應(yīng)用中特別需要注意的問題
1．3 一般巖石礦物樣品的加工
1．3．1 樣品加工流程
1．3．2 樣品加工的粒度要求
1．4 金礦和鉑族元素樣品的加工
1．4．1 金礦樣品的特性
1．4．2 不同粒級(jí)金礦樣品的劃分
1．4．3 金礦樣品加工的特殊措施
1．4．4 金礦樣品加工質(zhì)量檢查
1．5 特殊樣品加工
1．5．1 黃鐵礦和測定亞鐵樣品加工
1．5．2 鉻鐵礦樣品加工
1．5．3 玻璃及陶瓷原料所用的石英砂、石英巖、高嶺土、黏土、瓷土等樣品加工
1．5．4 巖鹽、芒硝、石膏樣品加工
1．5．5 云母、石棉樣品加工
1．5．6 沸石樣品加工
1．5．7 膨潤土樣品加工
1．5．8 物相分析樣品加工
1．5．9 單礦物樣品加工
1．5．10 組合分析樣品加工
1．5．11 水系沉積物、土壤樣品和煤樣加工
1．6 樣品加工中的質(zhì)量控制
1．7 樣品加工新技術(shù)——超細(xì)粉碎
第2章 樣品預(yù)處理
2．1 酸溶分解法
2．1．1 氫氟酸分解
2．1．2 鹽酸分解
2．1．3 硝酸分解
2．1．4 硫酸分解
2．1．5 高氯酸分解
2．1．6 磷酸分解
2．1．7 密閉溶樣
2．2 熔融分解法
2．2．1 碳酸鈉熔融
2．2．2 苛性堿熔融
2．2．3 過氧化鈉熔融
2．2．4 硼砂和硼酸酐熔融
2．2．5 偏硼酸鋰和其他的含鋰硼酸鹽熔融
2．2．6 焦硫酸鉀熔融
2．3 燒結(jié)（半熔）法
2．3．1 過氧化鈉燒結(jié)
2．3．2 堿金屬碳酸鹽和二價(jià)金屬氧化物混合熔劑燒結(jié)
2．3．3 其他的燒結(jié)試劑
2．4 微波消解法
2．5 選擇性分解
第3章 硅酸鹽體系化學(xué)分析方法
3．1 硅酸鹽的分類、組成及結(jié)構(gòu)
3．1．1 硅酸鹽的分類
3．1．2 硅酸鹽的組成及結(jié)構(gòu)
3．2 硅酸鹽體系化學(xué)全分析
3．2．1 硅酸鹽體系化學(xué)全分析內(nèi)容
3．2．2 硅酸鹽化學(xué)成分系統(tǒng)分析
3．2．3 硅酸鹽全分析結(jié)果的表示
3．3 硅酸鹽樣品前處理
3．3．1 酸溶分解法
3．3．2 熔融法
3．3．3 半熔法（燒結(jié)法）
3．4 硅酸鹽體系常規(guī)分析項(xiàng)目及分析方法
3．4．1 二氧化硅含量的測定
3．4．2 水分測定
3．4．3 燒失量的測定
3．4．4 總鐵含量的測定
3．4．5 三氧化二鋁含量的測定
3．4．6 二氧化鈦含量的測定
3．4．7 氧化鈣和氧化鎂含量的測定
3．4．8 氧化錳含量的測定
3．4．9 氧化鉀和氧化鈉含量的測定
3．4．10 五氧化二磷含量的測定
實(shí)驗(yàn)一 動(dòng)物膠凝聚重量法測定二氧化硅含量
實(shí)驗(yàn)二 重鉻酸鉀滴定法測定總鐵含量
第4章 紫外-可見吸收光譜法
4．1 紫外-可見吸收光譜分析的基本原理
4．1．1 紫外-可見吸收光譜的產(chǎn)生
4．1．2 常用術(shù)語
4．1．3 透光率和吸光度
4．1．4 吸收光譜和標(biāo)準(zhǔn)曲線
4．1．5 朗伯-比耳定律
4．1．6 朗伯-比耳定律的偏離
4．2 紫外-可見分光光度計(jì)
4．2．1 主要組成
4．2．2 紫外-可見分光光度計(jì)的類型
4．2．3 分光光度計(jì)的校正
4．3 紫外-可見吸收光譜法的應(yīng)用
4．3．1 紫外-可見吸收光譜分析方法
4．3．2 儀器測量條件的選擇
4．3．3 紫外-可見分光光度計(jì)的維護(hù)與保養(yǎng)
實(shí)驗(yàn) 鄰菲羅啉分光光度法測定磁鐵礦中的鐵含量
第5章 原子吸收光譜法
5．1 原子吸收光譜分析的基本原理
5．1．1 原子吸收光譜的產(chǎn)生
5．1．2 基態(tài)原子數(shù)與激發(fā)態(tài)原子數(shù)的關(guān)系
5．1．3 原子吸收光譜輪廓
5．1．4 原子吸收光譜的測量
5．2 原子吸收光譜儀
5．2．1 光源
5．2．2 原子化器
5．2．3 單色器
5．2．4 檢測器
5．3 原子吸收光譜法的應(yīng)用
5．3．1 測定條件和參數(shù)的選擇
5．3．2 干擾效應(yīng)及消除方法
5．3．3 原子吸收光譜儀的維護(hù)和保養(yǎng)
實(shí)驗(yàn) 火焰原子吸收分光光度法測定硅酸鹽巖中的鋅含量
第6章 原子熒光光譜法
6．1 原子熒光光譜分析的基本原理
6．1．1 原子熒光光譜的產(chǎn)生和特性
6．1．2 原子熒光光譜分析的定量基礎(chǔ)
6．1．3 氫化物發(fā)生-原子熒光法基礎(chǔ)
6．2 原子熒光光譜儀
6．2．1 光源
6．2．2 石英管原子化器
6．2．3 光學(xué)系統(tǒng)
6．2．4 檢測器
6．3 氫化物發(fā)生-原子熒光光譜法的應(yīng)用
6．3．1 測定條件和參數(shù)的選擇
6．3．2 干擾效應(yīng)及消除方法
6．3．3 原子熒光光譜儀的維護(hù)和保養(yǎng)
實(shí)驗(yàn) 氫化物發(fā)生一原子熒光法測定土壤中的總砷含量
第7章 原子發(fā)射光譜法
7．1 原子發(fā)射光譜分析的基本原理
7．1．1 原子的激發(fā)
7．1．2 電離
7．1．3 譜線強(qiáng)度
7．1．4 譜線的自吸和自蝕
7．2 原子發(fā)射光譜儀
7．2．1 平面光柵攝譜儀的光路部分
7．2．2 光譜激發(fā)源
7．2．3 電極和試樣的引入方式
7．2．4 分光系統(tǒng)
7．2．5 檢測系統(tǒng)
7．2．6 相板性質(zhì)及暗室處理
7．3 原子發(fā)射光譜法的應(yīng)用
7．3．1 特點(diǎn)和局限性
7．3．2 光譜定性分析
7．3．3 光譜定量分析
7．3．4 原子發(fā)射光譜分析法的發(fā)展
7．3．5 原子發(fā)射光譜儀的維護(hù)和保養(yǎng)
實(shí)驗(yàn) 硅酸鹽的半定量光譜分析
第8章 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法
8．1 電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析的基本原理
8．1．1 等離子體光源的特性
8．1．2 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法的分析特性
8．1．3 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法和經(jīng)典發(fā)射光譜法的分析比較
8．2 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
8．2．1 電感耦合等離子體激發(fā)源
8．2．2 進(jìn)樣系統(tǒng)
8．2．3 色散光譜儀系統(tǒng)
8．2．4 檢測系統(tǒng)
8．2．5 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀類型
8．3 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法的應(yīng)用
8．3．1 適用范圍
8．3．2 樣品的分解制備及注意事項(xiàng)
8．3．3 電感耦合等離子體發(fā)射光譜的干擾及校正
8．3．4 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的維護(hù)與保養(yǎng)
實(shí)驗(yàn) 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測定28種主、次、痕量元素含量
第9章 電感耦合等離子體質(zhì)譜法
9．1 電感耦合等離子體質(zhì)譜分析的基本原理
9．2 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀
9．2．1 進(jìn)樣系統(tǒng)
9．2．2 離子源-電感耦合等離子體
9．2．3 接口
9．2．4 離子聚焦系統(tǒng)
9．2．5 四極桿質(zhì)量分析器
9．2．6 離子檢測器
9．2．7 真空系統(tǒng)
9．3 等離子體質(zhì)譜法的應(yīng)用
9．3．1 等離子體質(zhì)譜技術(shù)的發(fā)展和優(yōu)勢
9．3．2 儀器測定條件和參數(shù)
9．3．3 質(zhì)譜圖及其干擾
9．3．4 樣品前處理
9．3．5 ICP-MS的應(yīng)用
9．3．6 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀的維護(hù)和保養(yǎng)
實(shí)驗(yàn) 電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定地質(zhì)樣品中Rb、Nb、Cs、Ba、Th等多種元素含量
第10章 X射線熒光光譜法
10．1 X射線熒光光譜分析的基本原理
10．1．1 X射線光譜
10．1．2 X射線與物質(zhì)的相互作用
10．1．3 X射線熒光的產(chǎn)生
10．1．4 內(nèi)層電子被激發(fā)后的馳豫過程
10．2 X射線熒光光譜儀
10．2．1 激發(fā)源
10．2．2 分光系統(tǒng)
10．2．3 檢測記錄系統(tǒng)
10．2．4 輔助設(shè)備
10．2．5 附屬設(shè)備
10．3 X射線熒光光譜法的應(yīng)用
10．3．1 常用分析方法
10．3．2 樣品制備
10．3．3 X射線熒光分析的誤差來源
10．3．4 X射線熒光光譜儀的維護(hù)與保養(yǎng)
實(shí)驗(yàn) X射線熒光光譜法測定硅酸鹽巖中16種主、次元素的含量
第11章 X射線衍射分析
11．1 X射線衍射分析的基本原理
11．2 X射線衍射儀
11．2．1 X射線發(fā)生器
11．2．2 測角儀系統(tǒng)
11．2．3 控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
11．3 X射線衍射法的應(yīng)用
11．3．1 X衍射分析基礎(chǔ)
11．3．2 粉晶X射線衍射定性相分析
11．3．3 粉晶X射線衍射定量相分析
11．3．4 X射線衍射儀的維護(hù)和保養(yǎng)
實(shí)驗(yàn) X射線衍射定性相分析
第12章 實(shí)驗(yàn)室測試質(zhì)量控制及質(zhì)量評(píng)估
12．1 質(zhì)量控制的目的
12．2 質(zhì)量控制的常用技術(shù)和方法
12．2．1 數(shù)據(jù)控制
12．2．2 質(zhì)量控制的常用技術(shù)
12．2．3 質(zhì)量控制的常用方法
12．3 質(zhì)量評(píng)估
12．3．1 質(zhì)量評(píng)估的目的
12．3．2 質(zhì)量評(píng)估的方式
12．3．3 質(zhì)量評(píng)估的依據(jù)
12．3．4 質(zhì)量評(píng)估的技術(shù)方法
參考文獻(xiàn)