臨床X線頭影測量學

第一章 X線頭影測量發(fā)展簡史
第一節(jié) 人類學測量研究
第二節(jié) 人類學研究對口腔正畸學的啟迪
第三節(jié) X射線與頭影測量
第四節(jié) 頭影測量的傳奇故事
第五節(jié) Broadbent、Hofrath與X線頭影測量技術
第六節(jié) X線頭影測量的發(fā)展現(xiàn)狀
第二章 頭顱定位X線攝像
第一節(jié) 頭顱定位儀及其定位原理
一、頭顱定位儀
二、頭顱定位儀的定位原理
第二節(jié) X線攝像與頭顱定位側(cè)位片
一、體位
二、投照距離和放大誤差
三、同一矢狀平面上的放大誤差
四、X線頭顱定位側(cè)位片
第三章 頭顱定位側(cè)位片上各主要影像的解剖結構及描跡圖
一、額骨
二、鼻額縫
三、鼻骨
四、眶側(cè)緣和眶下緣
五、顳下窩前壁和顴牙槽嵴
六、垂體窩
七、蝶骨板
八、篩狀板
九、額骨篩狀切跡緣
十、前床突
十一、額骨眶面
十二、蝶骨大翼（大腦面）
十三、翼上頜裂
十四、后床突
十五、蝶骨斜坡
十六、枕骨基部
十七、外耳道
十八、枕骨髁突
十九、上頜骨
二十、下頜骨
二十一、樞椎與寰椎
第四章 描跡圖的描跡方法
第一節(jié) 描跡所需工具
第二節(jié) Johnston均分法
一、Johnston均分法的均分原理
二、Johnston均分法的操作
三、Johnston均分法之我見
第三節(jié) 描跡方法
第五章 常用頭顱定位側(cè)位影像測量標志點
一、常用顱部標志點
二、常用上頜標志點
三、常用下頜標志點
四、常用軟組織側(cè)貌標志點
第六章 頭影測量平面
第一節(jié) 基準平面
一、前顱底平面
二、眶耳平面
三、Bolton平面
第二節(jié) 硬組織常用測量平面
一、腭平面
二、全顱底平面
三、駘平面
四、下頜平面
五、下頜升支平面
六、面平面
七、NA平面
八、上下牙槽座平面
九、AP平面
十、Y軸
第三節(jié) 軟組織常用測量平面
一、軟組織面平面
二、審美平面
三、Holdaway線
四、Steiner軟組織觀察線
五、側(cè)貌輪廓線
六、鼻下點垂直線
七、額點垂線
第七章 常用X線頭影分析法
第一節(jié) 數(shù)學測量分析
一、常用測量項目
（一）顱底及相鄰結構
（二）上、下頜骨
（三）牙-牙槽
（四）前、后面部高度
（五）軟組織測量項目與面部側(cè)貌美學
二、常用測量分析法
（一）Tweed分析法與Tweed-Merrifield經(jīng)典方絲弓個體化診斷設計系統(tǒng)
（二）Wylie分析法
（三）Bjork分析法
（四）Downs分析法
（五）Riedel分析法
（六）Steiner分析法
（七）Coben分析法
（八）Ricketts分析法
（九）四邊形分析法
（十）“Wits”分析法
第二節(jié) 重疊描跡圖形態(tài)比較法
一、以觀察牙頜、顱面總體改變的圖跡重疊法
（一）Bolton平面重疊法
（二）前顱底平面重疊法
（三）眶耳平面重疊法
二、以分別觀察上、下頜骨及牙齒局部改變的圖跡重疊法
（一）上頜圖跡重疊法
（二）下頜圖跡重疊法
三、Johnston圖跡重疊法
四、Johnston“草耙”分析法
第八章 頭顱正位片的測量分析
一、頭顱正位片的投照與誤差
二、頭顱正位片的標志點
三、正位片中的參考平面
四、頭顱正位片的應用
五、頭顱正位片的分析方法
第九章 X線頭影測量中的誤區(qū)
一、描圖誤區(qū)
（一）上、下中切牙
（二）對均分法的錯誤理解和運用
（三）幾個組織結構的描圖誤區(qū)
二、定點誤區(qū)
（一）髁突點
（二）高角病例頦前點的定位
（三）軟組織鼻根點
三、連線與切線
（一）混淆了幾何學中“連線”與“切線”的概念
（二）切點與切線段
四、常用測量平面、角度和方法
（一）測量平面
（二）角度
（三）測量方法
（四）眶耳平面
第十章 關于X線頭影測量的可靠性問題
一、關于定點誤差
二、關于基準平面
三、關于某些測量項目的實際代表性問題
第十一章 計算機頭影測量與CBCT的應用
一、計算機X線頭影測量系統(tǒng)
二、錐形束CT為基礎的三維頭影測量
附錄 數(shù)字化頭影測量——幾何畫板技術
一、幾何畫板的工具介紹
二、制作模板
三、測量的具體應用
四、其他分析法的模板制作及應用
參考文獻