嵌入式系統(tǒng)中的輻射效應(yīng)

定　價：￥79.00

作　者：	[法] 拉烏爾·委拉茲克著；黃云譯
出版社：	機(jī)械工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	國際電氣工程先進(jìn)技術(shù)譯叢
標(biāo)　簽：	暫缺

購買這本書可以去

ISBN：	9787111582861	出版時間：	2017-12-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	233	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書由法國TIMA實(shí)驗(yàn)室的RaoulVelazco、法國波爾多第壹大學(xué)的PascalFouillat和巴西南里奧格蘭德聯(lián)邦大學(xué)的RicardoReis共同編著，從環(huán)境、效應(yīng)、測試、評價、加固和預(yù)計等方面全面詳細(xì)介紹了嵌入式系統(tǒng)中的輻射效應(yīng)，主要內(nèi)容包括空間輻射環(huán)境、微電子器件中的輻射效應(yīng)、電子器件的在軌飛行異常、多層級故障效應(yīng)評估、基于脈沖激光的單粒子效應(yīng)測試和分析技術(shù)、電路的加固方法及自動化工具、輻射效應(yīng)試驗(yàn)測試設(shè)備以及數(shù)字架構(gòu)的錯誤率預(yù)計方法等。本書內(nèi)容全面、豐富且針對性強(qiáng)，覆蓋了電子器件及系統(tǒng)輻射效應(yīng)的方方面面。區(qū)別于其他電子系統(tǒng)輻射效應(yīng)論著，本書從工程化的角度論述空間輻射效應(yīng)評估、地面模擬、軟錯誤率預(yù)計等技術(shù)以及國際上目前先進(jìn)的研究方法論，同時兼具基礎(chǔ)性和理論性。本書適合專業(yè)從事電子器件及系統(tǒng)輻射效應(yīng)研究的科研人員和工程化應(yīng)用的技術(shù)人員閱讀和借鑒；同時，也可為該領(lǐng)域的“新人”（如研究生）提供必備的基礎(chǔ)知識。

作者簡介

暫缺《嵌入式系統(tǒng)中的輻射效應(yīng)》作者簡介

圖書目錄

譯者序
原書前言
第１章　空間輻射環(huán)境１
?。?１　空間輻射效應(yīng)１
　?。?１.１　空間輻射環(huán)境：范艾倫帶、太陽耀斑、太陽風(fēng)和宇宙射線１
　?。?１.２　劑量效應(yīng)：產(chǎn)生原因、對電子器件的影響、輻射強(qiáng)度４
　?。?１.３　位移效應(yīng)：產(chǎn)生原因、對電子器件的效應(yīng)、輻射強(qiáng)度５
　?。?１.４　重離子效應(yīng)：產(chǎn)生原因、對電子器件的效應(yīng)、輻射強(qiáng)度５
　?。?１.５　質(zhì)子效應(yīng)：產(chǎn)生原因（直接或間接）、對電子器件的效應(yīng)、輻射強(qiáng)度６
?。?２　其他效應(yīng)７　
?。?２.１　原子氧：來源和效應(yīng)７
　　１.２.２　太陽紫外線：來源和效應(yīng)７
　?。?２.３　微流星體：來源和效應(yīng)８
　?。?２.４　軌道碎片：來源和效應(yīng)８
　參考文獻(xiàn)９
第２章　微電子器件的輻射效應(yīng)１０
?。?１　引言１０　
?。?１.１　長期效應(yīng)１０
　?。?１.２　瞬態(tài)效應(yīng)１１
?。?２?。停希悠骷保?　
　２.２.１　閾值電壓漂移１２
　?。?２.２　退化效應(yīng)１４
　?。?２.３　亞閾斜率１５
　?。?２.４　ＭＯＳＦＥＴ的泄漏電流１５
?。?３　雙極型器件１７　　
２.３.１　簡介１７　
　２.３.２　電流成分１７　
?。?３.３　射－基間耗盡區(qū)的復(fù)合效應(yīng)１８
　　２.３.４　中立基區(qū)的復(fù)合效應(yīng)１８　
?。?３.５　電流增益１９
?。?４　單粒子效應(yīng)２０　
　２.４.１　引言２０　
?。?４.２　仿真方法２１
　?。?４.３　器件級效應(yīng)２２
第３章　電子器件的飛行異常２６
第４章　多層級故障效應(yīng)評估６１
第５章　模擬和混合信號電路的輻射效應(yīng)７９
第６章　單粒子翻轉(zhuǎn)的脈沖激光測試技術(shù)基礎(chǔ)１０６
第７章　ＡＳＩＣ電路的設(shè)計加固方法１２５
第８章　可編程電路的錯誤容差１４０
第９章　用于加固設(shè)計的自動化工具１５８
第１０章?。樱牛藕涂倓┝吭囼?yàn)測試設(shè)備１７7
第１１章　數(shù)字架構(gòu)的錯誤率預(yù)計：測試方法學(xué)和工具２０４
第１２章　基于ＳＥＥＭ軟件的激光ＳＥＴ測試和分析２２6