嵌入式系統(tǒng)中的輻射效應

定　價：￥79.00

作　者：	[法] 拉烏爾·委拉茲克著；黃云譯
出版社：	機械工業(yè)出版社
叢編項：	國際電氣工程先進技術譯叢
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787111582861	出版時間：	2017-12-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	233	字數(shù)：

內容簡介

　　本書由法國TIMA實驗室的RaoulVelazco、法國波爾多第壹大學的PascalFouillat和巴西南里奧格蘭德聯(lián)邦大學的RicardoReis共同編著，從環(huán)境、效應、測試、評價、加固和預計等方面全面詳細介紹了嵌入式系統(tǒng)中的輻射效應，主要內容包括空間輻射環(huán)境、微電子器件中的輻射效應、電子器件的在軌飛行異常、多層級故障效應評估、基于脈沖激光的單粒子效應測試和分析技術、電路的加固方法及自動化工具、輻射效應試驗測試設備以及數(shù)字架構的錯誤率預計方法等。本書內容全面、豐富且針對性強，覆蓋了電子器件及系統(tǒng)輻射效應的方方面面。區(qū)別于其他電子系統(tǒng)輻射效應論著，本書從工程化的角度論述空間輻射效應評估、地面模擬、軟錯誤率預計等技術以及國際上目前先進的研究方法論，同時兼具基礎性和理論性。本書適合專業(yè)從事電子器件及系統(tǒng)輻射效應研究的科研人員和工程化應用的技術人員閱讀和借鑒；同時，也可為該領域的“新人”（如研究生）提供必備的基礎知識。

作者簡介

暫缺《嵌入式系統(tǒng)中的輻射效應》作者簡介

圖書目錄

譯者序
原書前言
第１章　空間輻射環(huán)境１
?。?１　空間輻射效應１
　?。?１.１　空間輻射環(huán)境：范艾倫帶、太陽耀斑、太陽風和宇宙射線１
　?。?１.２　劑量效應：產生原因、對電子器件的影響、輻射強度４
　?。?１.３　位移效應：產生原因、對電子器件的效應、輻射強度５
　?。?１.４　重離子效應：產生原因、對電子器件的效應、輻射強度５
　?。?１.５　質子效應：產生原因（直接或間接）、對電子器件的效應、輻射強度６
?。?２　其他效應７　
?。?２.１　原子氧：來源和效應７
　?。?２.２　太陽紫外線：來源和效應７
　?。?２.３　微流星體：來源和效應８
　?。?２.４　軌道碎片：來源和效應８
　參考文獻９
第２章　微電子器件的輻射效應１０
?。?１　引言１０　
?。?１.１　長期效應１０
　　２.１.２　瞬態(tài)效應１１
?。?２?。停希悠骷保?　
?。?２.１　閾值電壓漂移１２
　　２.２.２　退化效應１４
　?。?２.３　亞閾斜率１５
　　２.２.４?。停希樱疲牛缘男孤╇娏鳎保?
?。?３　雙極型器件１７　　
２.３.１　簡介１７　
　２.３.２　電流成分１７　
?。?３.３　射－基間耗盡區(qū)的復合效應１８
　?。?３.４　中立基區(qū)的復合效應１８　
?。?３.５　電流增益１９
?。?４　單粒子效應２０　
?。?４.１　引言２０　
?。?４.２　仿真方法２１
　?。?４.３　器件級效應２２
第３章　電子器件的飛行異常２６
第４章　多層級故障效應評估６１
第５章　模擬和混合信號電路的輻射效應７９
第６章　單粒子翻轉的脈沖激光測試技術基礎１０６
第７章?。粒樱桑秒娐返脑O計加固方法１２５
第８章　可編程電路的錯誤容差１４０
第９章　用于加固設計的自動化工具１５８
第１０章　ＳＥＥ和總劑量試驗測試設備１７7
第１１章　數(shù)字架構的錯誤率預計：測試方法學和工具２０４
第１２章　基于ＳＥＥＭ軟件的激光ＳＥＴ測試和分析２２6