基于數(shù)據(jù)挖掘的軟件缺陷預(yù)測技術(shù)

定　價：￥35.00

作　者：	馬櫻著
出版社：	廈門大學(xué)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

購買這本書可以去

ISBN：	9787561562833	出版時間：	2018-06-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	164	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本專著主要基于軟件領(lǐng)域數(shù)據(jù)的特性和預(yù)測模型的不同應(yīng)用場景，對軟件缺陷預(yù)測前言的若干關(guān)鍵技術(shù)進行了研究和總結(jié)。主要內(nèi)容包括遷移學(xué) 習(xí)環(huán)境下的缺陷預(yù)測技術(shù)，半監(jiān)督環(huán)境下的缺陷預(yù)測技術(shù)，主動學(xué)習(xí)環(huán)境下的缺陷預(yù)測技術(shù)，基于核理論的缺陷預(yù)測技術(shù)，所應(yīng)用的理論、算法及應(yīng)用成果的介紹和展示。