電子材料與器件實驗

定　價：￥30.00

作　者：	蘭偉，盛英卓，韓衛(wèi)華著
出版社：	蘭州大學(xué)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787311055813	出版時間：	2019-02-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	149	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《電子材料與器件實驗》分為“三個層次”的實驗教學(xué)內(nèi)容，即基礎(chǔ)性實驗、提高性實驗和創(chuàng)新性實驗。實驗內(nèi)容既涵蓋了經(jīng)典的半導(dǎo)體物理基礎(chǔ)實驗，又增加了多個應(yīng)用性和創(chuàng)新性實驗，例如太陽能電池、鋰離子電池、超級電容器、氣敏探測器、太陽能光催化等。增加實驗后，《電子材料與器件實驗》既豐富了實驗內(nèi)容，同時又體現(xiàn)了物理基本原理與知識應(yīng)用的重要性，目的在于緊跟科學(xué)發(fā)展前沿，提高學(xué)生的學(xué)習(xí)興趣，拓寬學(xué)生的視野，最終達到培養(yǎng)和提高學(xué)生科研素質(zhì)和創(chuàng)新能力的目的。

作者簡介

暫缺《電子材料與器件實驗》作者簡介

圖書目錄

第一部分基礎(chǔ)性實驗
實驗一四探針法測量半導(dǎo)體電阻率
實驗二橢圓偏振法測量薄膜厚度和折射率
實驗三激光測定單晶硅的晶向
實驗四熒光分光光度計測試半導(dǎo)體光致發(fā)光
實驗五紫外一可見分光光度計測試光譜
實驗六 MOS結(jié)構(gòu)的高頻電容一電壓特性測試
實驗七半導(dǎo)體材料的霍爾系數(shù)和電阻率
實驗八半導(dǎo)體材料的塞貝克系數(shù)測定
實驗九光刻工藝
第二部分提高性實驗
實驗十肖特基二極管的伏安特性測量
實驗十一電感耦合等離子體化學(xué)氣相沉積法制備硅基薄膜
實驗十二射頻濺射法沉積氧化物薄膜
實驗十三熱絲化學(xué)氣相沉積制備非晶碳基薄膜
實驗十四場效應(yīng)晶體管的性能測定
實驗十五太陽能電池參數(shù)測定
第三部分創(chuàng)新性實驗
實驗十六靜電紡絲制備半導(dǎo)體納米材料
實驗十七微弱電能信號的測量與收集
實驗十八光化學(xué)電池型自供能紫外探測器
實驗十九鋰離子電池的組裝與性能
實驗二十超級電容器的性能測量
實驗二十一納米氧化物半導(dǎo)體材料TiO3光催化性能
實驗二十二氣敏傳感器的組裝與性能