本圖書是譯著,原著是由CIGRE/CIRED/UIE Joint Working Group C4.110工作組于2010年發(fā)表的研究報告《Voltage Dip Immunity of Equipment and Installations》。本書以CIGRE/CIRED/UIE聯(lián)合工作組JWG C4.110于2010年發(fā)布的研究報告為主要依據(jù),結(jié)合國內(nèi)外對電壓暫降對敏感設(shè)備和過程的影響和研究需要而編譯,目的在于呈現(xiàn)國內(nèi)外研究成果,并將該領(lǐng)域已被熟知的電壓耐受能力與物理參數(shù)免疫力結(jié)合起來,幫助設(shè)備制造商、終端設(shè)備用戶,更好地認識和理解設(shè)備抗電壓暫降的能力和對設(shè)備抗電壓暫降的免疫力的要求。