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敏感設(shè)備與過程電壓暫降免疫力

敏感設(shè)備與過程電壓暫降免疫力

定 價:¥49.00

作 者: (法)CIGRE CIRED UIE聯(lián)合工作組C4.110
出版社: 華南理工大學出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

ISBN: 9787562358381 出版時間: 2018-12-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 112 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

  本圖書是譯著,原著是由CIGRE/CIRED/UIE Joint Working Group C4.110工作組于2010年發(fā)表的研究報告《Voltage Dip Immunity of Equipment and Installations》。本書以CIGRE/CIRED/UIE聯(lián)合工作組JWG C4.110于2010年發(fā)布的研究報告為主要依據(jù),結(jié)合國內(nèi)外對電壓暫降對敏感設(shè)備和過程的影響和研究需要而編譯,目的在于呈現(xiàn)國內(nèi)外研究成果,并將該領(lǐng)域已被熟知的電壓耐受能力與物理參數(shù)免疫力結(jié)合起來,幫助設(shè)備制造商、終端設(shè)備用戶,更好地認識和理解設(shè)備抗電壓暫降的能力和對設(shè)備抗電壓暫降的免疫力的要求。

作者簡介

  莫文雄,廣州供電局有限公司電力試驗研究院,高級工程師,院長,曾任廣州供電局變電管理一所主任,長期從事變電設(shè)備管理工作,在變電站建設(shè)與運維、電力設(shè)備多維度管理,電能質(zhì)量及用電技術(shù)監(jiān)督管理等領(lǐng)域具有豐富工作經(jīng)驗。

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