本圖書是譯著,原著是由CIGRE/CIRED/UIE Joint Working Group C4.110工作組于2010年發(fā)表的研究報告《Voltage Dip Immunity of Equipment and Installations》。本書以CIGRE/CIRED/UIE聯(lián)合工作組JWG C4.110于2010年發(fā)布的研究報告為主要依據(jù),結合國內(nèi)外對電壓暫降對敏感設備和過程的影響和研究需要而編譯,目的在于呈現(xiàn)國內(nèi)外研究成果,并將該領域已被熟知的電壓耐受能力與物理參數(shù)免疫力結合起來,幫助設備制造商、終端設備用戶,更好地認識和理解設備抗電壓暫降的能力和對設備抗電壓暫降的免疫力的要求。