國之重器出版工程 衛(wèi)星充放電效應(yīng)環(huán)境模擬方法

第 1章　緒論 001
1．1　衛(wèi)星充放電效應(yīng)概念、影響因素及危害　003
1．1．1　衛(wèi)星充放電效應(yīng)的基本概念　003
1．1．2　衛(wèi)星充放電效應(yīng)的影響因素　006
1．1．3　衛(wèi)星充放電效應(yīng)的危害　008
1．2　衛(wèi)星充放電效應(yīng)試驗技術(shù)國內(nèi)外研究現(xiàn)狀　017
1．2．1　國內(nèi)外研究現(xiàn)狀概述　017
1．2．2　發(fā)展趨勢　022
第　2章 充放電效應(yīng)材料特性參數(shù)測試方法　025
2．1　二次電子發(fā)射特性測試　028
2．1．1　二次電子發(fā)射　028
2．1．2　二次電子發(fā)射系數(shù)　029
2．1．3　二次電子發(fā)射系數(shù)與入射角的關(guān)系　030
2．1．4　二次電子發(fā)射系數(shù)與入射能量的關(guān)系　030
2．1．5　二次電子發(fā)射系數(shù)與材料表面電位的關(guān)系　033
2．1．6　二次電子發(fā)射系數(shù)與表面粗糙度的關(guān)系　034
2．1．7　二次電子發(fā)射系數(shù)測試　035
2．2　光電子發(fā)射特性測試　044
2．2．1　光電效應(yīng)　044
2．2．2　光電子發(fā)射　044
2．2．3　材料表面吸收率與光子波長的關(guān)系　046
2．2．4　入射光頻率對光電子產(chǎn)生的影響　047
2．2．5　光電子發(fā)射的影響因素　048
2．2．6　光照對尖端放電的影響　050
2．2．7　光電子發(fā)射測試　051
2．3　本征電導率特性測試　053
2．3．1　材料的本征電導率　053
2．3．2　材料電導率與表面電位的關(guān)系　054
2．3．3　電荷衰減法本征電導率測試　055
2．4　輻射誘導電導率特性測試　059
2．4．1　輻射誘導電導率的形成過程　059
2．4．2　輻射誘導電導率的分類　060
2．4．3　輻射誘導電導率測試方法　062
2．4．4　輻射誘導電導率測試　064
2．5　材料電氣特性測試　069
2．5．1　測試標準　069
2．5．2　介質(zhì)材料擊穿特性　070
2．5．3　介電常數(shù)測試　076
2．5．4　介質(zhì)材料介電強度特性測試　077
第3章　表面充放電效應(yīng)試驗技術(shù)　079
3．1　表面充放電效應(yīng)　081
3．1．1　空間帶電粒子的軌道限制理論　082
3．1．2　柴爾德 朗繆爾空間電荷限制理論　083
3．1．3　真空沿面閃絡(luò)放電　084
3．1．4　不等量帶電放電　086
3．1．5　吹離放電　090
3．2　表面充放電環(huán)境及效應(yīng)　092
3．2．1　LEO軌道充放電環(huán)境及效應(yīng)　093
3．2．2　PEO軌道充放電環(huán)境及效應(yīng)　099
3．2．3　GEO軌道充放電環(huán)境及效應(yīng)　103
3．3　表面充放電效應(yīng)試驗設(shè)備　112
3．4　電離層等離子體充放電效應(yīng)試驗技術(shù)　119
3．4．1　電離層等離子體環(huán)境模擬　119
3．4．2　低溫等離子體測量技術(shù)　122
3．5　磁暴等離子體充放電效應(yīng)試驗技術(shù)　127
3．5．1　磁暴等離子體環(huán)境模擬　127
3．5．2　表面電荷測試技術(shù)　132
3．5．3　表面電位測試技術(shù)　135
3．5．4　材料表面充放電特性測試　137
3．5．5　表面靜電放電脈沖特性測試　159
3．6　極光等離子體環(huán)境充放電效應(yīng)試驗技術(shù)　168
3．6．1　極光充放電環(huán)境模擬　168
3．6．2　尾區(qū)充放電效應(yīng)試驗　169
3．7　人為等離子體環(huán)境充放電效應(yīng)試驗技術(shù)　172
3．7．1　人為等離子體特性測試　173
3．7．2　人為等離子體對空間等離子體環(huán)境的影響　176
3．7．3　人為等離子體對衛(wèi)星表面電位的影響　176
3．7．4　人為等離子體充放電效應(yīng)試驗　177
第4章　深層介質(zhì)充放電效應(yīng)試驗技術(shù)　181
4．1　深層介質(zhì)充放電效應(yīng)　183
4．1．1　高能帶電粒子與介質(zhì)材料相互作用過程　183
4．1．2　高能電子輻射下電荷沉積及電荷輸運　186
4．1．3　深層介質(zhì)放電　187
4．2　深層介質(zhì)充放電環(huán)境及其效應(yīng)　191
4．2．1　地球輻射帶　191
4．2．2　高能電子分布特征　194
4．2．3　空間電子環(huán)境模型　197
4．3　深層介質(zhì)充放電效應(yīng)試驗設(shè)備　200
4．4　電子束流測量技術(shù)　203
4．4．1　法拉第筒測試技術(shù)　203
4．4．2　高能電子束流測試技術(shù)　208
4．5　介質(zhì)內(nèi)部電荷/電場分布測試技術(shù)　210
4．5．1　電聲脈沖法　210
4．5．2　介質(zhì)內(nèi)部電荷測試　211
4．6　深層介質(zhì)放電脈沖特性試驗技術(shù)　217
4．6．1　懸浮導體樣品深層介質(zhì)放電脈沖特性　219
4．6．2　電纜樣品深層介質(zhì)放電脈沖特性試驗　222
4．6．3　FR4樣品深層介質(zhì)放電試驗　224
第5章　二次放電模擬試驗技術(shù)　229
5．1　高壓太陽電池二次放電機理　233
5．1．1　太陽電池陣結(jié)構(gòu)　233
5．1．2　高壓太陽電池介質(zhì)材料放電　234
5．1．3　高壓太陽電池金屬放電　235
5．1．4　高壓太陽電池二次放電　236
5．2　高壓部件SADA二次放電機理　242
5．2．1　SADA高壓部件帶電特性　242
5．2．2　SADA二次放電　244
5．3　高壓太陽電池二次放電模擬試驗技術(shù)　246
5．3．1　太陽電池電流收集增強效應(yīng)　246
5．3．2　太陽電池陣電流收集測試方法　247
5．3．3　太陽電池陣電流收集測試試驗　247
5．3．4　低軌道太陽電池二次放電試驗　248
5．3．5　高軌道二次放電模擬試驗　252
5．4　高能電子輻照誘發(fā)的SADA二次放電模擬試驗技術(shù)　256
5．4．1　試驗系統(tǒng)　256
5．4．2　SADA充電平衡電位測試　256
5．4．3　SADA靜電放電特性測試　258
第6章　衛(wèi)星充放電效應(yīng)電磁脈沖干擾試驗技術(shù)　261
6．1　衛(wèi)星帶電放電　263
6．1．1　放電類型　263
6．1．2　放電電流脈沖　264
6．1．3　典型的空間靜電放電參數(shù)　266
6．2　放電注入模擬源　267
6．2．1　電弧放電源　267
6．2．2　容性放電源　275
6．3　空間靜電放電耦合方法　279
6．3．1　電場耦合　279
6．3．2　磁場耦合　280
6．3．3　輻射耦合　281
6．4　空間充放電效應(yīng)耦合測試技術(shù)　282
6．4．1　表面靜電放電耦合測試技術(shù)　282
6．4．2　深層介質(zhì)放電耦合測試技術(shù)　284
6．4．3　輻射場測試技術(shù)　290
6．4．4　單點尖端放電測試技術(shù)　290
6．4．5　結(jié)構(gòu)電流測試技術(shù)　290
6．4．6　整星放電測試技術(shù)　291
6．4．7　器件級空間靜電放電測試技術(shù)　294
6．5　衛(wèi)星部件充放電效應(yīng)干擾試驗　298
6．5．1　電路板放電注入試驗　298
6．5．2　電纜放電注入試驗　301
6．5．3　典型單機電路表面充放電脈沖注入試驗　302
6．5．4　深層介質(zhì)放電對星內(nèi)單機影響的注入試驗　306
6．5．5　深層介質(zhì)放電對器件注入試驗　308
參考文獻　319
索引　333