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X射線檢測關鍵技術與應用研究

X射線檢測關鍵技術與應用研究

定　價：￥68.00

作　者： 方正 著
出版社： 廈門大學出版社
叢編項： 廈門大學南強叢書第7輯
標　簽： 理論物理學 物理學 自然科學
ISBN： 9787561580684 出版時間： 2021-03-01 包裝： 平裝-膠訂
開本： 16開 頁數(shù)： 字數(shù)：  

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