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一板成功:高速電路研發(fā)與設(shè)計(jì)典型故障案例解析

一板成功:高速電路研發(fā)與設(shè)計(jì)典型故障案例解析

定 價(jià):¥39.00

作 者: 張晶威 著
出版社: 清華大學(xué)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

ISBN: 9787302589235 出版時(shí)間: 2021-12-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 140 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  《一板成功——高速電路研發(fā)與設(shè)計(jì)典型故障案例解析》是面向硬件電路與系統(tǒng)的工程技術(shù)類書籍,通過對(duì)電子工程設(shè)計(jì)中的實(shí)際故障案例分析,幫助讀者形成硬件設(shè)計(jì)流程中電路調(diào)測(cè)和故障排查的方法體系。從研發(fā)設(shè)計(jì)人員的視角探求硬件電路與系統(tǒng)的測(cè)試測(cè)量、電路調(diào)試、故障分析以及解決方案,內(nèi)容涵蓋時(shí)鐘、電源、邏輯器件、總線、高速信號(hào)、測(cè)量技術(shù)等常規(guī)的硬件電路模塊。兼具理論性和工程實(shí)用性。 《一板成功——高速電路研發(fā)與設(shè)計(jì)典型故障案例解析》適合作為從事計(jì)算機(jī)、通信設(shè)備、高端儀器制造等行業(yè)的電路設(shè)計(jì)、開發(fā)專業(yè)工程師、研究人員的技術(shù)參考書,也可以作為電子科學(xué)技術(shù)、電子工程專業(yè)高年級(jí)本科生和研究生的參考用書。

作者簡介

  從事電子硬件技術(shù)工作10余年,涉及計(jì)算機(jī)、通信、儀器儀表、工業(yè)、國防 等行業(yè) ,并參與多項(xiàng)國j級(jí)、省級(jí)系統(tǒng)平臺(tái)建設(shè)。近年來,主要從事云平臺(tái)、邊緣計(jì)算、異構(gòu)計(jì)算系統(tǒng)設(shè)計(jì)工作。

圖書目錄



目錄

第1章硬件故障排查的方法論

1.1硬件故障排查的“三板斧”

1.1.1硬件故障排查的一看、二查和三板斧

1.1.2案例1——PCI系統(tǒng)兼容性問題及“三板斧”
的流程

1.1.3小結(jié)

1.2現(xiàn)象整理

1.2.1排故工作如何開展——制訂試驗(yàn)計(jì)劃

1.2.2報(bào)告的誤區(qū)

1.2.3案例2——CPCI系統(tǒng)啟動(dòng)過程宕機(jī),兼談故障
報(bào)告的誤區(qū)

1.2.4案例3——器件兼容替代引發(fā)內(nèi)存數(shù)據(jù)錯(cuò)誤,
兼談一份優(yōu)質(zhì)測(cè)試報(bào)告

1.2.5小結(jié)

1.3表象與本質(zhì)的距離

1.3.1案例2的解讀

1.3.2案例4——系統(tǒng)外設(shè)接入與VGA接口顯示
異常故障綁定

1.3.3案例5——計(jì)算機(jī)VGA接口顯示異常故障

1.3.4小結(jié)

1.4知行合一

1.4.1故障排查中的思維方法與理論知識(shí)

1.4.2適應(yīng)自身的方法

1.4.3非技術(shù)層面的困擾

1.4.4故障排查的執(zhí)行力

第2章時(shí)鐘電路的設(shè)計(jì)與應(yīng)用

2.1案例6——鎖相環(huán)(PLL)輸出時(shí)鐘頻率偏差超出額定值

2.1.1項(xiàng)目背景及故障描述

2.1.2故障分析思路

2.1.3故障排查及原理分析

2.2案例7——時(shí)鐘鎖定速度優(yōu)化導(dǎo)致系統(tǒng)誤碼率提升

2.2.1項(xiàng)目背景及故障描述

2.2.2故障分析思路

2.2.3故障排查及原理分析

2.2.4小結(jié)

2.3案例8——交流耦合電容誤用致芯片輸入時(shí)鐘異常

2.3.1項(xiàng)目背景及故障描述

2.3.2故障分析思路

2.3.3故障排查及原理分析

2.4案例9——板卡適配的故障,談共同時(shí)鐘的時(shí)序約束

2.4.1項(xiàng)目背景及故障描述

2.4.2故障分析思路

2.4.3故障排查及原理分析





第3章電源電路設(shè)計(jì)與應(yīng)用

3.1案例10——LDO輸出濾波電容ESR配置不當(dāng)致電源
輸出振蕩

3.1.1項(xiàng)目背景及故障描述

3.1.2故障排查及原理分析

3.1.3解決方案

3.2案例11——模塊輸入引腳的驅(qū)動(dòng)電流與電源使能控制
信號(hào)

3.2.1項(xiàng)目背景及故障描述

3.2.2故障分析思路

3.2.3故障排查及原理分析

3.2.4小結(jié)

3.3案例12——控制邏輯I/O配置與不同電源域漏電

3.3.1項(xiàng)目背景及故障描述

3.3.2故障分析思路

3.3.3故障排查及原理分析

3.3.4小結(jié)

3.4案例13——DCDC激活邏輯延遲導(dǎo)致系統(tǒng)上電時(shí)序錯(cuò)誤

3.4.1項(xiàng)目背景及故障描述

3.4.2故障分析思路

3.4.3故障排查及原理分析

第4章復(fù)位信號(hào)與電路模塊的初始化配置

4.1案例14——反相器選型與應(yīng)用不當(dāng)導(dǎo)致系統(tǒng)頻繁復(fù)位

4.1.1項(xiàng)目背景及故障描述

4.1.2故障分析思路

4.1.3故障排查及原理分析

4.1.4小結(jié)

4.2案例15——JTAG_RST配置不當(dāng)導(dǎo)致芯片進(jìn)入測(cè)試模式

4.2.1項(xiàng)目背景及故障描述

4.2.2故障分析思路

4.2.3故障排查及原理分析

4.3案例16——約束引腳配置錯(cuò)誤導(dǎo)致系統(tǒng)無法啟動(dòng)加載

4.3.1項(xiàng)目背景及故障描述

4.3.2故障分析思路

4.3.3故障排查及原理分析

4.3.4小結(jié)

第5章MOS管與邏輯器件應(yīng)用

5.1案例17——電容放電式引信發(fā)火藥劑配制誤差

5.1.1項(xiàng)目背景及故障描述

5.1.2故障分析思路

5.1.3故障排查及原理分析

5.1.4小結(jié)

5.2雙向電平轉(zhuǎn)換芯片誤用導(dǎo)致控制邏輯錯(cuò)誤

5.2.1NMOS管原型應(yīng)用分析

5.2.2芯片解決方案GTL2003系列

5.2.3慎重處理上、下拉電阻

5.2.4 I2C解決方案

第6章總線與高速信號(hào)

6.1案例1回顧——PCI透明橋時(shí)鐘延遲差異導(dǎo)致下游設(shè)備異常

6.1.1項(xiàng)目背景及故障描述

6.1.2故障分析思路

6.1.3故障排查及原理分析

6.2案例18——兩級(jí)Buffer與PCIe總線時(shí)鐘噪聲

6.2.1項(xiàng)目背景及故障描述

6.2.2故障分析思路

6.2.3故障排查及原理分析

6.3案例19——BMC對(duì)服務(wù)器系統(tǒng)“一鍵收集日志”引發(fā)告警

6.3.1項(xiàng)目背景及故障描述

6.3.2故障分析思路

6.3.3故障排查及原理分析

6.4案例20——網(wǎng)絡(luò)變壓器供電連接錯(cuò)誤導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)故障

6.4.1項(xiàng)目背景及故障描述

6.4.2故障分析思路

6.4.3故障排查及原理分析

6.5案例21——高速總線交流耦合電容值過小致總線傳輸
誤碼率升高

6.5.1項(xiàng)目背景及故障描述

6.5.2故障分析思路

6.5.3故障排查及原理分析

6.5.4小結(jié)

6.6案例22——射頻連接器的串?dāng)_導(dǎo)致鏈路信號(hào)誤碼

6.6.1項(xiàng)目背景及故障描述

6.6.2故障分析思路

6.6.3故障排查及原理分析

第7章測(cè)試計(jì)量與系統(tǒng)

7.1案例23——采樣策略與存儲(chǔ)器深度關(guān)聯(lián)導(dǎo)致信號(hào)異常
濾波

7.1.1項(xiàng)目背景及故障描述

7.1.2故障分析思路

7.1.3故障排查及原理分析

7.1.4舉一反三

7.2案例24——半實(shí)物仿真旋轉(zhuǎn)變壓器的輸出角度抖動(dòng)故障

7.2.1項(xiàng)目背景及故障描述

7.2.2故障分析思路

7.2.3故障排查及原理分析

第8章故障排查與硬件設(shè)計(jì)

8.1拙戰(zhàn)論

8.2高質(zhì)量的設(shè)計(jì)動(dòng)作

后記從彷徨到吶喊

參考文獻(xiàn)

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