石墨烯材料質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ)：計量

定　價：￥218.00

作　者：	任玲玲
出版社：	華東理工大學(xué)出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787562864141	出版時間：	2021-05-01	包裝：	精裝
開本：	16開	頁數(shù)：	228	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書共七章。前兩章主要介紹了計量與材料計量的基本概念，以及石墨烯材料計量、標準的規(guī)劃設(shè)計及框架。后五章主要介紹了石墨烯材料質(zhì)量評價中關(guān)于真假判斷的部分計量技術(shù)。第3章介紹了石墨烯材料拉曼光譜計量技術(shù)，第4章介紹了X 射線衍射法測量石墨烯材料晶體結(jié)構(gòu)，第5章介紹了原子力顯微鏡法測量石墨烯材料厚度，第6章介紹了石墨烯材料電子顯微鏡計量技術(shù)，第7章介紹了石墨烯粉體化學(xué)成分測量技術(shù)。附錄補充了X 射線衍射儀的溯源性研究、掠入射X 射線反射膜厚測量儀器校準的內(nèi)容。

作者簡介

　　任玲玲，畢業(yè)于北京化工大學(xué)，現(xiàn)任中國計量科學(xué)研究院納米新材料計量研究所新材料計量實驗室主任，APMP（亞太計量組織）-TCMM（材料計量技術(shù)委員會）委員、VAMAS（先進材料標準化凡爾賽公約）組織中國代表，ISO TC229委員，全國納米計數(shù)標準化委員會納米檢測技術(shù)工作組秘書長。2003-2005年，中科院化學(xué)所分子納米結(jié)構(gòu)與納米技術(shù)院重點實驗室，師從白春禮院士、萬立駿院士做博士后；2005-2007年，韓國KIST（Korea Institute of Science & Technology）做訪問學(xué)者。

圖書目錄

1章計量與材料計量001
1.1 計量概述003
1.2 計量與測量007
1.2.1 測量007
1.2.2 計量008
1.2.3 計量特點010
1.3 測量誤差與測量不確定度011
1.3.1 測量誤差011
1.3.2 測量不確定度012
1.4 標準物質(zhì)015
1.5 計量的作用017
1.5.1 計量對國民經(jīng)濟的作用017
1.5.2 計量在基礎(chǔ)研究中的作用019
1.6 材料計量概述019
1.6.1 材料計量研究內(nèi)容021
1.6.2 材料計量研究成果及社會服務(wù)022
1.6.3 材料計量國內(nèi)外現(xiàn)狀023
1.7 國際計量組織026
1.7.1 國際計量局(BIPM) 026
1.7.2 亞太計量規(guī)劃組織(APMP) 028
1.7.3 先進材料與標準凡爾賽合作計劃(VAMAS) 029
1.8 計量比對030
1.9 總結(jié)與展望031
1.9.1 總結(jié)031
1.9.2 展望032
參考文獻035
第2章　國家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施及石墨烯材料計量037
2.1 我國古代質(zhì)量觀———度量衡039
2.2 現(xiàn)代質(zhì)量觀———國家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施041
2.3 計量在國家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施中的基礎(chǔ)地位043
2.4 納米技術(shù)對計量技術(shù)的需求046
2.5 石墨烯材料產(chǎn)業(yè)國家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施技術(shù)發(fā)展048
2.6 石墨烯材料關(guān)鍵特性參數(shù)調(diào)研057
參考文獻064
第3章　石墨烯材料拉曼光譜計量技術(shù)065
3.1 概述067
3.2 拉曼光譜儀溯源070
3.2.1 拉曼光譜測量原理071
3.2.2 拉曼頻移的溯源073
3.2.3 拉曼相對強度的溯源074
3.3 拉曼頻移和相對強度標準物質(zhì)的研制076
3.3.1 拉曼頻移標準物質(zhì)077
3.3.2 拉曼相對強度標準物質(zhì)083
3.4 基于拉曼頻移和相對強度標準物質(zhì)校準拉曼光譜儀的方法086
3.4.1 基于拉曼頻移標準物質(zhì)校準拉曼光譜儀的方法086
3.4.2 基于拉曼相對強度標準物質(zhì)校準拉曼光譜儀的方法089
3.5 石墨烯材料拉曼光譜測量標準方法090
3.5.1 測量方法研究091
3.5.2 標準方法建立過程中的國內(nèi)比對093
3.6 小結(jié)096
參考文獻096
第4章　X 射線衍射法測量石墨烯材料晶體結(jié)構(gòu)099
4.1 概述101
4.2 設(shè)備溯源和校準104
4.2.1 設(shè)備溯源105
4.2.2 設(shè)備校準106
4.3 測量方法研究109
4.3.1 測量樣品準備109
4.3.2 取樣原則109
4.3.3 測量條件110
4.3.4 圖譜分析及數(shù)據(jù)處理111
4.4 計量比對111
4.5 標準方法117
4.6 小結(jié)117
參考文獻118
第5章　原子力顯微鏡法測量石墨烯材料厚度119
5.1 概述121
5.2 原子力顯微鏡技術(shù)原理122
5.3 原子力顯微鏡設(shè)備校準與溯源123
5.4 測量方法建立126
5.4.1 AFM 掃描模式的選擇126
5.4.2 AFM 測量用基底的影響126
5.4.3 AFM 測量參數(shù)的影響127
5.4.4 AFM 數(shù)據(jù)分析處理的方法128
5.4.5 不確定度評定131
5.5 計量比對132
5.5.1 比對樣品的選取132
5.5.2 國內(nèi)比對133
5.5.3 國際比對136
5.6 測量方法標準化137
5.7 小結(jié)138
參考文獻138
第6章　石墨烯材料電子顯微鏡計量技術(shù)141
6.1 掃描電鏡測量石墨烯材料片層尺寸和覆蓋度144
6.1.1 掃描電鏡溯源及校準145
6.1.2 石墨烯片層尺寸測量方法154
6.1.3 大范圍金屬基底上石墨烯薄膜覆蓋度的測量方法159
6.2 透射電鏡測量石墨烯材料形貌、層數(shù)和層間距168
6.2.1 透射電鏡校準溯源169
6.2.2 透射電鏡放大倍率校準用標準物質(zhì)171
6.2.3 透射電鏡校準方法174
6.2.4 石墨烯形貌、層數(shù)和層間距的透射電鏡測量方法179
6.3 小結(jié)185
參考文獻186
第7章　石墨烯粉體化學(xué)成分測量技術(shù)189
7.1 概述191
7.2 XPS儀器測量要求192
7.2.1 XPS儀器簡介192
7.2.2 XPS儀器檢定校準193
7.2.3 XPS儀器檢定校準用標準物質(zhì)195
7.2.4 XPS儀器檢測注意事項195
7.3 石墨烯粉體的C/O 測量技術(shù)研究196
7.3.1 測量樣品選取196
7.3.2 石墨烯粉體XPS測量方法開發(fā)197
7.3.3 石墨烯粉體C/O 測量實例199
7.4 ICP MS儀器測量要求203
7.5 石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)測量技術(shù)研究204
7.5.1 測量樣品處理204
7.5.2 石墨烯粉體的ICP MS測量程序205
7.5.3 石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)測量實例205
7.6 標準測量方法開發(fā)209
7.7 小結(jié)209
參考文獻210
附錄1　X 射線衍射儀的溯源性研究211
附錄2　掠入射X 射線反射膜厚測量儀器校準221
索引226