納米材料與結(jié)構(gòu)測試方法

定　價：￥58.00

作　者：	張亞非，劉麗月，楊志
出版社：	上海交通大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787313208934	出版時間：	2019-04-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：		字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　納米結(jié)構(gòu)的材料通常具有獨特的電學、光學、磁學以及力學性能，而納米測試方法在納米材料與器件研究過程中起著至關(guān)重要的作用。《納米材料與結(jié)構(gòu)測試方法/前沿電子信息專業(yè)教材系列》結(jié)合實際科研經(jīng)驗介紹了納米分析和表征技術(shù)?！都{米材料與結(jié)構(gòu)測試方法/前沿電子信息專業(yè)教材系列》共8章，具體內(nèi)容為：第1章概述納米材料的定義、特性以及表征技術(shù)；第2章介紹了納米材料的膜厚測量方法；第3、4章介紹了材料的形貌及成分表征：第5至8章分別介紹了納米材料的光學、力學、電學以及磁學性能的表征方法；第9章講述了納米微細結(jié)構(gòu)的分析方法。《納米材料與結(jié)構(gòu)測試方法/前沿電子信息專業(yè)教材系列》可作為納米科學與技術(shù)領(lǐng)域研究人員的參考；也可作為高等院校相關(guān)專業(yè)研究生、本科生參考教材使用。

作者簡介

　　孫衛(wèi)強，上海交通大學電子工程系，教授，主要研究方向：電子信息專業(yè)。有著長期且豐富的一線教學經(jīng)驗，同時非常了解該專業(yè)領(lǐng)域的前沿的技術(shù)。

圖書目錄

第1章納米材料及其性能
1.1 引言
1.2 納米材料的特性
1.3 納米測量／表征技術(shù)
第2章納米尺度及薄膜厚度的測量方法
2.1 納米定位和測量技術(shù)簡介
2.2 臺階儀
2.3 橢圓偏振儀
第3章納米材料的形貌分析
3.1 基本理論與概念
3.2 掃描電子顯微鏡
3.3 透射電子顯微鏡
3.4 掃描隧道顯微鏡
3.5 原子力顯微鏡
3.6 激光粒度儀
第4章納米材料的X射線粉末衍射儀
4.1 X射線的基本理論
4.2 X射線衍射裝置
4.3 X射線粉末衍射儀在納米材料中的應(yīng)用
第5章納米材料的拉曼散射測試
5.1 拉曼光譜基礎(chǔ)
5.2 拉曼散射儀的結(jié)構(gòu)
5.3 拉曼散射在納米材料領(lǐng)域的應(yīng)用
第6章納米結(jié)構(gòu)的力學性能測試方法
6.1 傳統(tǒng)力學和納米力學
6.2 基于顯微鏡的力學測試方法
6.3 納米壓痕儀
第7章納米材料電學性能的測試
7.1 納米材料的電學性質(zhì)
7.2 納米材料電學特性的測試方法
7.3 納米硅體系電學性質(zhì)的研究進展
第8章納米材料磁學性能的測試
8.1 磁性的基本概念與基本量
8.2 磁性測量的基本原理和儀器
8.3 納米材料磁學性能的測量實例
第9章納米結(jié)構(gòu)的化學組成及微細結(jié)構(gòu)分析方法
9.1 核磁共振波譜
9.2 順磁共振波譜法簡介
9.3 BET氮吸附法
索引