電子系統(tǒng)高功率電磁效應

目錄
叢書序
譯者序
前言
致謝
第1章 引言 1
1.1 現(xiàn)代社會對電子系統(tǒng)的依賴 1
1.2 HPEM環(huán)境綜述 1
1.3 HPEM效應綜述 3
1.4 電磁干擾及其影響簡史 3
1.5 體系層級 4
1.6 小結(jié) 7
參考文獻 8
第2章 HPEM環(huán)境 9
2.1 簡介 9
2.2 雷電 12
2.2.1 概述 12
2.2.2 雷電輻射環(huán)境 17
2.3 核電磁脈沖 17
2.3.1 HEMP輻射環(huán)境 18
2.3.2 HEMP傳導環(huán)境 23
2.3.3 HEMP的公開記錄 24
2.3.4 HEMP環(huán)境總結(jié) 24
2.4 高功率射頻定向能環(huán)境 25
2.4.1 HPRFDE系統(tǒng)的現(xiàn)狀 26
2.5 蓄意電磁干擾環(huán)境 29
2.5.1 IEMI技術(shù)能力小組 30
2.5.2 IEMI環(huán)境概述 33
2.5.3 HPRFDE和IEMI使用的案例 34
2.6 HPRFDE和IEMI環(huán)境的分類 36
2.6.1 窄波段 37
2.6.2 寬波段 40
2.6.3 超波段 42
2.7 小結(jié) 44
參考文獻 44
第3章 HPEM耦合與相互作用 52
3.1 電磁耦合與相互作用模型 52
3.2 拓撲概念 55
3.3 傳遞函數(shù) 57
3.3.1 天線傳遞函數(shù) 57
3.3.2 自由空間波傳播 60
3.3.3 耦合/輻射效率 60
3.3.4 透射 64
3.3.5 孔縫泄漏 66
3.3.6 傳導耦合 67
3.3.7 電耦合、容性耦合和磁耦合 67
3.3.8 容性耦合 68
3.3.9 感性耦合 69
3.4 系統(tǒng)殼體內(nèi)部場變化 70
3.5 總體響應 71
3.5.1 器件、設備、系統(tǒng)、網(wǎng)絡和基礎(chǔ)設施 71
3.5.2 耦合：HPEM環(huán)境類型的函數(shù) 71
參考文獻 73
第4章 HPEM試驗設備和技術(shù)概述 75
4.1 簡介 75
4.1.1 場景的一般考慮 76
4.1.2 HPEM環(huán)境模擬的一般考慮 78
4.1.3 SUT的一般考慮 79
4.1.4 小結(jié) 79
4.2 HPEM效應試驗中的不確定性 80
4.3 HPEM效應試驗方法和裝置 81
4.3.1 HPEM輻射試驗 81
4.3.2 HPEM輻射試驗設施和HPEM環(huán)境模擬 83
4.3.3 HPEM輻射環(huán)境測量 98
4.3.4 測量鏈路 98
4.3.5 HPEM傳導試驗 100
4.3.6 傳導HPEM環(huán)境的測量 106
4.4 受試系統(tǒng)的激勵和觀察 107
4.5 效應數(shù)據(jù)表示形式 108
4.6 實際HPEM效應試驗的其他考慮因素 112
4.7 小結(jié) 113
參考文獻 114
第5章 HPEM效應機理 118
5.1 簡介 118
5.2 術(shù)語 118
5.3 器件和電路級效應 120
5.3.1 整流 120
5.3.2 噪聲 121
5.3.3 干擾或阻塞 122
5.3.4 飽和 122
5.3.5 工作點漂移 123
5.3.6 虛假信息 123
5.3.7 瞬態(tài)翻轉(zhuǎn) 123
5.3.8 混沌效應 124
5.3.9 損傷和破壞 125
5.3.10 公開發(fā)布的器件級和電路級效應數(shù)據(jù) 127
5.4 設備、系統(tǒng)和網(wǎng)絡級效應 128
5.5 HPEM信號指示器 137
5.5.1 瞬態(tài)或時域信號指示器 137
5.5.2 頻域信號指示器 140
5.5.3 脈沖連續(xù)波信號 143
5.5.4 響應指示器的使用 147
5.6 影響HPEM效應機理的信號指示器 151
5.6.1 重頻脈沖效應：充電和加熱 151
5.6.2 重頻脈沖效應：熱損傷 153
5.6.3 重頻脈沖效應：截獲概率 154
5.6.4 頻譜密度引起的效應 156
5.6.5 效應帶寬理論的意義 159
5.7 小結(jié) 162
參考文獻 164
第6章 HPEM效應的分類及意義 167
6.1 簡介 167
6.2 電磁效應分類 168
6.2.1 基于物理機制的效應分類 168
6.2.2 基于持續(xù)時間的效應分類 170
6.2.3 基于危害程度的效應分類 171
6.3 小結(jié) 172
參考文獻 173
第7章 HPEM防護概念和方法 174
7.1 簡介 174
7.2 屏蔽拓撲防護概念 174
7.2.1 屏蔽拓撲建模 175
7.2.2 屏蔽機理 177
7.3 利用非線性器件的傳導防護 186
7.3.1 限幅防護方法 186
7.3.2 非線性器件的分析總結(jié) 211
7.4 HPEM彈性和探測 212
7.4.1 一種基于風險分析的方法 213
7.4.2 彈性方法 214
7.4.3 HPEM探測 216
7.5 HPEM標準 223
7.5.1 HPEM標準組織 223
7.6 小結(jié) 225
參考文獻 225
第8章 總結(jié)與展望 231
參考文獻 235
術(shù)語縮略語表 236
作者簡介 240