高等儀器分析

定　價(jià)：￥98.00

作　者：	王霆，孫鐵東
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787030762153	出版時(shí)間：	2023-09-01	包裝：	平裝膠訂
開本：	16開	頁數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書圍繞分子結(jié)構(gòu)解析和材料表界面研究，分九章系統(tǒng)介紹與之相關(guān)的各種先進(jìn)儀器分析方法，包括質(zhì)譜分析法、一維核磁共振波譜分析法、二維核磁共振波譜分析法、紅外和拉曼波譜分析法、紫外和分子熒光波譜分析法、X射線衍射分析法、X射線光電子能譜分析法、表面顯微分析法。對于每種方法的發(fā)展史、基本原理、常用概念、主要測定技術(shù)、測試影響因素以及方法的應(yīng)用實(shí)例都給出了深入的介紹。