晶體結(jié)構(gòu)與缺陷的電子顯微分析實(shí)驗(yàn)案例

　　本書涵蓋作者自20世紀(jì)80年代末師從郭可信先生起至近年帶領(lǐng)研究團(tuán)隊(duì)在有關(guān)電子衍射方面所積累的主要實(shí)驗(yàn)案例，旨在以“案例”的形式梳理電子顯微學(xué)及晶體學(xué)的基礎(chǔ)知識(shí)，展示如何通過對(duì)材料基礎(chǔ)科學(xué)問題的再認(rèn)識(shí)從而對(duì)經(jīng)典問題產(chǎn)生新理解，分享發(fā)現(xiàn)的樂趣，傳授 30 余載的學(xué)術(shù)經(jīng)驗(yàn)。本書主體（第2～6章）按晶體的對(duì)稱性從低到高依次展開，包括單斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系，涉及周期性晶體14種布拉維點(diǎn)陣中的13種點(diǎn)陣類別以及部分準(zhǔn)晶體，共40余種物相。第1章和第7章是科學(xué)研究中相關(guān)歷史事件的精彩片段，不但能引起讀者對(duì)本領(lǐng)域歷代先驅(qū)者的無限敬仰，也能激發(fā)年輕學(xué)者投身于基礎(chǔ)科學(xué)研究、探索自然奧秘的熱情和決心。本書適合作為電子顯微學(xué)以及材料相關(guān)專業(yè)研究生的教學(xué)用書，也可供材料科學(xué)與過程領(lǐng)域的科研工作者和從業(yè)者閱讀和參考。

暫缺《晶體結(jié)構(gòu)與缺陷的電子顯微分析實(shí)驗(yàn)案例》作者簡介