材料X射線分析技術

前言
第1章 晶體學基礎
1.1 晶體及其基本性質
1.1.1 晶體的概念
1.1.2 空間點陣的四要素
1.1.3 布拉維陣胞
1.2 晶向、晶面及晶帶
1.2.1 晶向及其表征
1.2.2 晶面及其表征
1.2.3 晶帶及其表征
1.3 晶體的投影
1.3.1 球面投影與極射赤面投影
1.3.2 極式網(wǎng)與烏氏網(wǎng)
1.3.3 晶帶的極射赤面投影
1.3.4 標準極射赤面投影圖
1.4 正點陣與倒易點陣
1.4.1 正點陣
1.4.2 倒易點陣
1.4.3 正倒空間之間的關系
1.4.4 倒易矢量的基本性質
1.4.5 晶帶定律
1.4.6 廣義晶帶定律
本章小結
思考題
第2章 X射線的物理基礎
2.1 X射線的性質
2.1.1 X射線的產(chǎn)生
2.1.2 X射線的本質
2.2 X射線譜
2.2.1 X射線連續(xù)譜
2.2.2 X射線特征譜
2.3 X射線與物質的相互作用
2.3.1 X射線的散射
2.3.2 X射線的吸收
2.3.3 吸收限的作用
本章小結
思考題
第3章 X射線的衍射原理
3.1 X射線的衍射方向
3.1.1 勞厄方程
3.1.2 布拉格方程
3.1.3 布拉格方程的討論
3.1.4 衍射矢量方程
3.1.5 布拉格方程的埃瓦爾德圖解
3.1.6 布拉格方程的應用
3.1.7 常見的衍射方法
3.2 X射線的衍射強度
3.2.1 單電子對X射線的散射
3.2.2 單原子對X射線的散射
3.2.3 單胞對X射線的散射
3.2.4 單晶體的散射與干涉函數(shù)
3.2.5 單相多晶體的衍射強度
3.2.6 影響單相多晶體衍射強度的其他因子
本章小結
思考題
第4章 X射線的物相分析
4.1 X射線衍射儀
4.1.1 測角儀
4.1.2 計數(shù)器
4.1.3 計數(shù)電路
4.1.4 X射線衍射儀的常規(guī)測量
4.2 X射線物相分析原理
4.2.1 物相的定性分析
4.2.2 物相的定量分析
本章小結
思考題
第5章 晶粒尺寸與多晶體內(nèi)應力的測量
5.1 晶粒尺寸的測量
5.1.1 晶粒細化的衍射效應
5.1.2 謝樂公式
5.2 多晶體內(nèi)應力的測量
5.2.1 多晶體內(nèi)應力的產(chǎn)生、分類及其衍射效應
5.2.2 多晶體宏觀應力的測量原理
5.2.3 多晶體宏觀應力的測量方法
5.2.4 多晶體宏觀應力常數(shù)K的確定
……
第6章 單晶體的結構、取向與宏觀殘余應力分析
第7章 織構分析
第8章 X射線小角散射與掠入射衍射分析
第9章 位錯分析
0章 層錯分析
1章 非晶分析
2章 成像分析
3章 成分分析
4章 點陣常數(shù)的測量與熱處理分析
附錄