本書為 “十四五”規(guī)劃教材,主要介紹晶體學基礎與X射線在材料結構、形貌和成分方面的分析技術。其中,結構分析技術包括X射線的物理基礎、衍射原理、物相分析、織構分析、小角散射與掠入射衍射分析、位錯分析、層錯分析、非晶分析、單晶體衍射與取向分析、內應力分析、點陣常數的測量與熱處理分析等;形貌分析技術即三維X射線顯微成像分析;成分分析技術包括特征X射線能譜、X射線光電子能譜及X射線熒光光譜等。書中研究和測試的材料主要包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子材料、非晶態(tài)材料、金屬間化合物、復合材料等。本書對每章內容做了提綱式的小結,并附有適量的思考題。書中采用一些作者尚未發(fā)表的圖,同時在實例分析中引入一些當前材料領域 的研究成果。本書可作為高等學校材料科學與工程專業(yè)本科生的學習用書,也可供相關專業(yè)的研究生、教師和科技工作者使用。